13453 - Physik und Analytik dünner Schichten Modulübersicht

Modulnummer: 13453 - Modul nicht mehr im Angebot ab WS 2018/19
Modultitel:Physik und Analytik dünner Schichten
  Physics and Analysis of Thin Films
Einrichtung: Fakultät 1 - MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik
Verantwortlich:
  • Prof. Dr. rer. nat. habil. Reif, Jürgen
Lehr- und Prüfungssprache:Deutsch
Dauer:1 Semester
Angebotsturnus: sporadisch nach Ankündigung
Leistungspunkte: 4
Lernziele:Die Studierenden beherrschen die Methodik zur Beschreibung von makroskopischen Flüssigkeitsmustern mittels geeigneter Grundgleichungen und vereinfachter Modelle. Am Beispiel der Thematik des Moduls werden die Methoden des Erkenntnisgewinns und deren exemplarischer Anwendung aufgezeigt. Darüber hinaus werden bei den Studierenden Sozialkompetenzen wie Kooperationsfähigkeit, sowie weitere individuelle Kompetenzen wie Sorgfalt, Ausdauer, Neugierde, Eigeninitiative, Frustrationstoleranz etc. gefördert.
Inhalte:
  1. Vakuum, Plasma und Beschichtungstechniken (PVD, CVD, Sputtern, PLD, MBE u. a.)
  2. Strukturuntersuchungstechniken (TEM, REM, XRD, Textur, XRR, HRXRD, RBS u.a.)
  3. Optische und elektrische Untersuchungstechniken (Ellipsometrie, van der Pauw, Hall u.a.)
  4. Schichtanwendungen: Schutzschichten, Hartstoffschichten, dekorative DS, Mikroelektronik u. a.
Empfohlene Voraussetzungen:Kenntnisse der Festkörperphysik im Rahmen eines Bachelor-Studiengangs Physik
Zwingende Voraussetzungen:keine
Lehrformen und Arbeitsumfang:
  • Vorlesung / 2 SWS
  • Selbststudium / 90 Stunden
Unterrichtsmaterialien und Literaturhinweise:werden zu Beginn des Semester ausgegeben
Modulprüfung:Voraussetzung + Modulabschlussprüfung (MAP)
Prüfungsleistung/en für Modulprüfung:Voraussetzung für die Modulabschlussprüfung:
  • erfolgreiches Halten eines Referats
Modulabschlussprüfung:
  • mündliche Prüfung, 30-45 min.
Bewertung der Modulprüfung:Prüfungsleistung - benotet
Teilnehmerbeschränkung:keine
Zuordnung zu Studiengängen:
  • keine Zuordnung vorhanden
Bemerkungen:Das Selbststudium setzt sich zusammen aus:
  • Nacharbeiten der Vorlesung
  • selbständiges Erarbeiten englischsprachiger Fachliteratur
  • Erarbeiten eines Referates

Bei Bedarf in englischer Sprache.
  • Studiengang Physik M. Sc.: Wahlpflichtmodul im Vertiefungsfach "Angewandte Physik".
Veranstaltungen zum Modul:Vorlesung Physik und Analytik dünner Schichten - 2 SWS
Veranstaltungen im aktuellen Semester:
  • keine Zuordnung vorhanden
Nachfolgemodul/e: Auslaufmodul ab: 02.07.2018
  • ohne Nachfolgemodul/e