Untersuchungen zur Messunsicherheit bei der Kalibrierung von E-Feldsonden

Autor(en)

Saul, Enrico, Bönisch, Sven, Heinrich, Ralf, Karsten, Uwe

Herausgeber

Garbe, Heyno

Publikationsart

Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel nicht referiert

Erscheinungsjahr

2016

Verlag

Aachen : Apprimus Verlag

Freie Schlagworte

Messunsicherheit; GUM; Kalibrierung; Feldsonde; Messunsicherheitsbudget

Quelle

EMV 2016 - Internationale Fachmess und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, S. 139 - 146

ISBN

978-3-86359-396-4

Potential Induced Degradation (PID) in Utility-Scale PV Plants: Fast Detection using String-Monitoring Systems

Autor(en)

Carretero, A., Schnitzer, S., Hoffmann, H., Bönisch, Sven

Publikationsart

Konferenzveröffentlichung

Erscheinungsjahr

2014

Quelle

Photovoltaik-Meeting, Anwendungen - Qualität - Perspektiven, Senftenberg 16.04.2014, S. 2 - 6

Untersuchungen von Antennenstrukturen für Störfestigkeitstests im Nahfeld

Autor(en)

Saul, Enrico, Bönisch, Sven

Herausgeber

Lehmann, Kathrin, Simon, Sylvio, Stein, Erhard

Publikationsart

Konferenzveröffentlichung

Erscheinungsjahr

2014

Verlag

Senftenberg : Brandenburgische Techn. Univ.

Quelle

1. Ingenieurtag 2014, Veranstaltung der Fakultät Ingenieurwissenschaften und Informatik der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus-Senftenberg auf dem Campus Senftenberg am 19.11.2014

ISBN

3-9810211-7-7

An automated Test Set-up for the dynamic Characterization of IGBT Modules under different thermal and electrical Conditions

Autor(en)

Hemp, Ionel, Göhler, Lutz, Bönisch, Sven

Publikationsart

Konferenzveröffentlichung

Erscheinungsjahr

2013

Verlag

Berlin [u.a.] : VDE-Verlag

Quelle

PCIM 2013, International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, Nürnberg, 14 - 16 May 2013, S. 888 - 895

ISBN

978-3-8007-3505-1

Conducted emission simulation of an industrial high power current source

Autor(en)

Bucke, Danny, Hemp, Ionel, Göhler, Lutz, Bönisch, Sven

Publikationsart

Konferenzveröffentlichung

Erscheinungsjahr

2013

Verlag

Piscataway, NJ : IEEE

Quelle

EMC-Europe 2013, International Symposium Electromagnetic Compatibility, Brugge, Belgium 2. - 6. September 2013, S. 676 - 681