Ausstattung

Optisches Emissionsspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES)

ETV-ICP-OES

Raman-Spektrometer

konfokales Raman-Mikroskop

Konfokale Mikroskopie, Weisslicht-Interferometrie und Phasenverschiebungs-Interferometrie

diffuse Reflexions-Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie (DRIFTS)

Continuum-Source-AAS

Zeemann-Graphitrohr-AAS

Atomabsorptionsspektrometrie – Zeeman-Graphitrohr-AAS
Funktionsprinzip:Die Analytlösung wird in einen elektrisch geheizten Graphitrohrofen getropft (3-50µL) getrocknet, verdampft und bei Temperaturen bis 3000 K atomisiert. Durch Anregung der im Grundzustand befindlichen Atome der Probe mit dem Licht einer Hohlkathodenlampe (elementspezifische Spektrallichtquelle) wird Strahlung absorbiert und das daraus resultierende Spektrum mittels Lambert-Beerschem Gesetz ausgewertet. Beim einem Gerät mit Zeeman-Untergrundkorrektur wird transversal zum Graphitrohrofen ein starkes Magnetfeld definiert zugeschaltet. Dieses bewirkt eine Aufspaltung der Resonanzline in zwei polarisierte Komponenten, die nach kürzeren und längeren Wellenlängen verschoben gegenüber der Resonanzlinie sind (Zeeman-Effekt). Bei anliegendem Magnetfeld und Einsatz einem Polarisators wird auf der Position der Wellenlänge der Resonanzline nur die Untergrundabsorption, aber nicht die Atomabsorption gemessen.
Anwendungsgebiete:Quantitative Einzelelementbestimmung von Neben- und Spurenkomponenten
Elementbereich:Übergangselemente, z. B. Fe, Co, Ni, Mn, Zn, Au, Alkali- und Erdalkalielemente, z. B. Na, K, Mg, außerdem Si. Nicht bestimmbar sind Halogene, Schwefel, Kohlenstoff und gasförmige Elemente deren Resonanzlinie <190 nm ist.
Nachweisgrenze;0.05 bis 100 µg/g, je nach Element und Materialart
Relativer Fehler:0.5 - 3 %
Probenanforderungen:Lösungen, Probenmenge: 2 - 20 mL
Geräte:Atomabsorptionsspektrometer Zeenit650s (analytikjena AG)
Besonderheiten:Verbesserung der Atomisierungseigenschaften von Proben durch Zugabe von Modifiern, Nutzung der Plattformtechnik und Zeemann-Untergrundkompensation
Anwendungsbeispiel:Bestimmung Spurengehalte von Metallen in Lösungen

Ionenchromatographische Systeme

Quadrupol-Massenspektrometer

Reflexionsmessung

Karl-Fischer-Titrator

Automatische Titration

Kontaktwinkel-Messgerät

Planetenkugelmühle

Mikrowellen-Aufschlusssysteme

Halogen-Feuchtebestimmer

Fluoreszenzspektrometer

Fluoreszenzspektroskopie
Funktionsprinzip:Elektronen werden durch Absorption von einem Singulett-Grundzustand S0 in ein beliebiges Schwingungsniveau des angeregten Zustandes S1 angeregt und gehen von dort unmittelbar und strahlungslos in den Schwingungszustand 0 des Zustandes S1 über. Die bei der Rückkehr von S1 in den Singulett-Grundzustand S0 beobachtete Emissionsstrahlung wird als Fluoreszenzemission bezeichnet. Demzufolge ist das Fluoreszenzspektrum gegenüber dem Absorptionsspektrum zu längeren Wellenlängen (d.h. niedrigeren Energien) verschoben. Fluoreszenz kann nur während oder nur unmittelbar nach der Anregung beobachtet werden. Experimentell erfolgt die Messung der Fluoreszenz senkrecht zur einfallenden Anregungsstrahlung, um deren Einfluss und den des ebenfalls auftretenden Streulichtanteils auf die Detektion der Fluoreszenzemission zu verringern. Die Intensität der Fluoreszenz I hängt von der Intensität des eingestrahlten Lichtes I0, dem Absorptionskoeffizient ε und der Fluoreszenzausbeute Q ab: I= I0*ε*Q
Anwendungsgebiete:Biochemie, Zellbiologie, Pharmazie, Umweltanalytik (Spurenanalytik), Nahrungsmittelindustrie
Nachweisgrenze:bestimmbarer Konzentrationsbereich 10-7 bis 10-4 M, (Kalibrationskurven >10-4 M wegen Quenching oder Selbstabsorption nicht mehr linear)
Probenanforderungen:Lösungen, Feststoffe als Pulver oder flache Proben (z.B. Wafer)
Geräte:Fluoromax
Anwendungsbeispiele:Bestimmung kritischer Mizellbildungskonstanten, Messung der statischen Photolumineszenz von amorphem Silicium

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