BTU Literaturdatenbank (UBICO)

Lattice strain enhanced acidic etching on as cut sawn silicon wafer

Autor(en)
Herold, Steven, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2021
Freie Schlagworte
silicon; lattice strain; Raman microscopy; confocal microscopy; etching; reactivity
Quelle
Materials Science in Semiconductor Processing
Band/Jahrgang
123
ISSN
1873-4081
1369-8001
URL
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S1369800120315080
DOI
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2020.105575

Studies on the deposition of copper in lithium-ion batteries during the deep discharge process

Autor(en)
Langner, Thomas, Sieber, Tim, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2021
Freie Schlagworte
lithium ion battery; discharge; continuum source AAS; REM-EXD; recycling
Quelle
Scientific Reports
Ausgabe/Heft
11
ISSN
2045-2322
URL
https://www.nature.com/articles/s41598-021-85575-x
DOI
https://doi.org/10.1038/s41598-021-85575-x

The Role of the Molecular Hydrogen Formation in the Process of Metal Ion Reduction on Multi-crystalline Silicon in a Hydrofluoric Acid Matrix

Autor(en)
Schönekerl, Stefan, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2021
Freie Schlagworte
molecular hydrogen; metal deposition; silicon; etching; hydrofluoric acid; reaction kinetics; dissolution; chemical analysis
Quelle
Nanomaterials
Band/Jahrgang
11
Ausgabe/Heft
4
ISSN
2079-4991
URL
https://www.mdpi.com/2079-4991/11/4/982
DOI
https://doi.org/10.3390/nano11040982

Strain enhanced chemical oxidation of silicon wafer

Autor(en)
Herold, Steven, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2021
Freie Schlagworte
silicon; lattice strain; oxidation; Raman; confocal microscopy
Quelle
Materials Science in Semiconductor Processing
Band/Jahrgang
135
ISSN
1369-8001
DOI
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2021.106105

Redox catalysts based on amorphous porous carbons

Autor(en)
Klepel, Olaf, Utgenannt, Stephan, Vormelchert, Carolin, König, Mark, Meißner, Andre, Hansen, Felix, Bölte, Jens-Henning, Sieber, Tim, Heinemann, Robert, Bron, Michael, Rokicinska, Anna, Jarczewski, Sebastian, Kustrowski, Piotr
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2021
Quelle
Microporous Mesoporous Materials
Band/Jahrgang
323
ISSN
1387-1811
DOI
https://doi.org/10.1016/j.micromeso.2021.111257

Raman spectroscopic determination of the degree of dissociation of nitric acid in binary and ternary mixtures with HF and H2SiF6

Autor(en)
Langner, Thomas, Rietig, Anja, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2020
Freie Schlagworte
Raman spectroscopy; nitric acid; dissociation; hexafluosilicic acid; hydrofluoric acid; silicon; etching
Quelle
Journal of Raman Spectroscopy, S. 366 - 372
Band/Jahrgang
51
Ausgabe/Heft
2
DOI
https://doi.org/10.1002/jrs.5769

Advanced insights into the stoichiometry and kinetics of the reaction of silicon in HF/HNO3 and HF/HNO3/H2SiF6 mixtures

Autor(en)
Rietig, Anja, Langner, Thomas, Acker, Jörg
Herausgeber
Andresen, Birger, Rong, Harry, Tangstad, Merete, Tveit, Halvard, Page, Ingrid
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2020
Verlag
Trondheim : The Norwegian University of Science and Technology
Freie Schlagworte
silicon; etching; Raman; etch rate; mass spectrometry; hydrogen; nitrous gases
Quelle
Silicon for the Chemical and Solar Industry XV, S. 145 - 159
ISBN
978-82-997357-9-7

The Kinetics and Stoichiometry of Metal Cation Reduction on Multi-Crystalline Silicon in a Dilute Hydrofluoric Acid Matrix

Autor(en)
Schönekerl, Stefan, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2020
Freie Schlagworte
silicon; etching; metal-assisted etching; kinetics; hydrofluoric acid; dissolution
Quelle
Nanomaterials
Band/Jahrgang
10
Ausgabe/Heft
12
ISSN
1747-681X
URL
https://www.mdpi.com/2079-4991/10/12/2545
DOI
https://doi.org/10.3390/nano10122545

Lattice strain and phase transformations in silicon introduced by the precipitation of Cu3Si

Autor(en)
Meißner, Andre, Sieber, Tim, Acker, Jörg
Herausgeber
Andresen, Birger, Rong, Harry, Tangstad, Merete, Tveit, Halvard, Page, Ingrid
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2020
Verlag
Trondheim : The Norwegian University of Science and Technology
Freie Schlagworte
silicon; direct synthesis; copper silicide; cuprous chloride; Raman; lattice strain; reactivity
Quelle
Silicon for the Chemical and Solar Industry XV, S. 47 - 56
ISBN
978-82-997357-9-7

Recovery of Li(Ni0.33Mn0.33Co0.33)O2 from Lithium-Ion Battery Cathodes: Aspects of Degradation

Autor(en)
Sieber, Tim, Ducke, Jana, Rietig, Anja, Langner, Thomas, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2019
Freie Schlagworte
lithium; nickel–manganese–cobalt oxide; NMC; leaching; recycling; SEM-EDX; Raman spectroscopy; lithium ion battery
Quelle
Nanomaterials, S. 246 - 259
Band/Jahrgang
9
Ausgabe/Heft
2
ISSN
2079-4991
URL
https://www.mdpi.com/journal/nanomaterials/special_issues/charact_nano
https://www.mdpi.com/2079-4991/9/2/246
DOI
https://doi.org/10.3390/nano9020246

Electroless-Deposited Platinum Antennas for Wireless Surface Acoustic Wave Sensors

Autor(en)
Brachmann, Erik, Seifert, Marietta, Neumann, Niels, Alshwawreh, Nidal, Uhlemann, Margitta, Menzel, Siegfried, Acker, Jörg, Herold, Steven, Hoffmann, Volker, Gemming, Thomas
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2019
Freie Schlagworte
wireless SAW sensor; high-temperature; antenna; electroless deposition; platinum film
Quelle
Materials, S. 1002 - 1014
Band/Jahrgang
12
Ausgabe/Heft
7
ISSN
1996-1944
URL
https://www.mdpi.com/1996-1944/12/7/1002
DOI
https://doi.org/10.3390/ma12071002

Ressourcensicherung durch Recycling von Sekundärrohstoffen

Autor(en)
Rietig, Anja, Acker, Jörg
Publikationsart
Teil eines Buches (Kapitel)
Erscheinungsjahr
2019
Verlag
Berlin : Vereinigung für Betriebliche Bildungsforschung e.V.
Freie Schlagworte
Lithiumbatterie; Funktionelles Recycling; Nickel-Mangan-Cobalt-Oxid; NMC; Raman-Spektroskopie; Laugung
Quelle
Systemwissen für die vernetzte Energie- und Mobilitätswende, S. 170 - 181
ISBN
978-3-9816861-7-3

Measurement of the temperature dependence of lattice deformations in silicon using Raman microscopy

Autor(en)
Herold, Steven, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2019
Freie Schlagworte
Raman spectroscopy; mechanical stress; silicon; crystallization; relaxation; thermal treatment; solar cell
Quelle
Journal of Applied Physics
Band/Jahrgang
126
ISSN
1089-7550
URL
https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5090476
DOI
https://doi.org/10.1063/1.5090476

Analysis of the strain dependent acidic etch rate on diamond wire sawn silicon wafer

Autor(en)
Herold, Steven, Acker, Jörg
Herausgeber
Zschech, Ehrenfried
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung nicht referiert
Erscheinungsjahr
2019
Verlag
Dresden : Fraunhofer IKTS Dresden
Quelle
7th Dresden Nanoanalysis Symposium : “Nano-scale characterization for cutting-edge materials research and sustainable materials development”, Abstract booklet, S. 46
URL
https://www.nanoanalytik.fraunhofer.de/content/dam/nanoanalytik/de/documents/7th_Dresden_Nanoanalysis_Symposium_abstracts.pdf

A two-step acidic texturization procedure for the manufacture of lowreflective multi-crystalline silicon solar wafer

Autor(en)
Meinel, Birgit, Langner, Thomas, Preis, Pirmin, Wefringhaus, Eckard, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2019
Freie Schlagworte
acidic texturization; multi-crystalline silicon; reflectivity; solar cell parameter; topography; confocal microscopy
Quelle
Solar Energy, S. 395 - 402
Band/Jahrgang
193
ISSN
0038-092X
DOI
https://doi.org/10.1016/j.solener.2019.09.051

A revised model of silicon oxidation during the dissolution of silicon in HF/HNO₃ mixtures

Autor(en)
Rietig, Anja, Langner, Thomas, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2019
Freie Schlagworte
silicon; etching; mechanism; nitrogen oxide; hydrogen; mass spectrometry; Raman spectroscopy; kinetics
Quelle
Physical chemistry, chemical physics, S. 22002 - 22013
Band/Jahrgang
21
ISSN
1463-9076
URL
https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2019/CP/C9CP04429A#!divAbstract
DOI
https://doi.org/10.1039/c9cp04429a

Rückgewinnung von Platin, Palladium und Rhodium aus Autoabgaskatalysatoren: Bestimmung der Edelmetallgehalte im Eisensammler mittels ICP-OES

Autor(en)
Ducke, Jana, Acker, Jörg
Herausgeber
Vogt, Carla
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung nicht referiert
Erscheinungsjahr
2019
Verlag
Freiberg : TU Bergakademie Freiberg
Freie Schlagworte
ICP-OES; Präzisionsanalytik; Mikrowellenaufschluss; Matrixeffekte; Platin; Eisen; Interferenzen; Palladium; Rhodium
Quelle
Colloquium Analytische Atomspektroskopie - CANAS 2019, Book of Abstracts, S. 32
URL
https://tu-freiberg.de/canas

Direkte Feststoffanalyse von Hauptkomponenten in Kathodenmaterialien von Lithiumbatterien mittels HRCS-GF-AAS

Autor(en)
Sieber, Tim, Rietig, Anja, Ducke, Jana, Acker, Jörg
Herausgeber
Vogt, Carla
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung nicht referiert
Erscheinungsjahr
2019
Verlag
Freiberg : TU Bergakademie Freiberg
Freie Schlagworte
continuum source; AAS; Feststoffanalytik; Feststoffstandard; Graphitrohr; Interferenz; NMC; Recycling; Lithium; Batterie
Quelle
Colloquium Analytische Atomspektroskopie - CANAS 2019, Book of Abstracts, S. 14
URL
https://tu-freiberg.de/en/canas/canas-2019-engl/final-program

Degradation effects on Li(Ni0.33Mn0.33Co0.33)O2 in the recovery of lithium battery cathodes

Autor(en)
Acker, Jörg, Sieber, Tim, Ducke, Jana, Langner, Thomas, Rietig, Anja
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung nicht referiert
Erscheinungsjahr
2019
Verlag
Ulm : Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg
Freie Schlagworte
lithium ion battery; recycling; NMC; electromobility; degradation; Raman spectroscopy; cathode
Quelle
Advanced Lithium Batteries for Automobile Applications - ABAA 12, Book of Abstracts, S. 28

Saw Damage as an Etch Mask for the Acidic Texturization of Multicrystalline Silicon Wafers

Autor(en)
Acker, Jörg, Langner, Thomas, Meinel, Birgit, Sieber, Tim
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2018
Freie Schlagworte
silicon; texturization; acidic etching; multi-wire sawing; stress field; confocal microscopy; solar cell
Quelle
Materials Science in Semiconductor Processing, S. 238 - 248
Band/Jahrgang
74
ISSN
1369-8001
URL
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800117313896
DOI
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2017.09.039

The impact of lattice strain on the reactivity of silicon

Autor(en)
Acker, Jörg, Sieber, Tim, Langner, Thomas, Herold, Steven
Herausgeber
Andresen, Birger, Nygaard, Lars, Rong, Harry, Tangstad, Merete, Tveit, Halvard, Page, Ingrid Gamst
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel nicht referiert
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Trondheim : The Norwegian University of Science and Technology
Freie Schlagworte
silicon; etching; Raman spectroscopy; lattice strain; stress; mechanical activation; mechanochemistry; confocal microscopy
Quelle
Silicon for the Chemical and Solar Industry XIV, S. 11 - 20

Etching Shapes the Topography of Silicon Wafers: Lattice-Strain Enhanced Chemical Reactivity of Silicon for Efficient Solar Cells

Autor(en)
Langner, Thomas, Sieber, Tim, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2018
Freie Schlagworte
lattice strain; silicon; Raman microscopy; confocal microscopy; etching; reactivity; solar cell; mechanochemistry
Quelle
ACS Applied Nano Materials, S. 4135 - 4144
Band/Jahrgang
1
Ausgabe/Heft
8
DOI
https://doi.org/10.1021/acsanm.8b00906

Lattice strain controls the etching of solar wafer surfaces

Autor(en)
Langner, Thomas, Sieber, Tim, Acker, Jörg
Herausgeber
Scheschkewitz, David, Kickelbick, Guido
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Saarbrücken : Universität des Saarlandes
Freie Schlagworte
Raman spectroscopy; silicon; lattice strain; etching; confocal microscopy
Quelle
9th European Silicon Days, 9-12 September 2018, Saarbrücken, Germany, Book of abstracts, S. 201

The influence of lattice deformations on the etch rates of potassium hydroxide on silicon

Autor(en)
Herold, Steven, Acker, Jörg
Herausgeber
Scheschkewitz, David, Kickelbick, Guido
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Saarbrücken : Universität des Saarlandes
Freie Schlagworte
silicon; etching; Raman spectroscopy; lattice strain; saw damage; confocal microscopy
Quelle
9th European Silicon Days, 9-12 September 2018, Saarbrücken, Germany, Book of abstracts, S. 198

Measurement of the temperature dependence of lattice deformations in silicon using Raman microscopy

Autor(en)
Herold, Steven, Acker, Jörg
Herausgeber
Scheschkewitz, David, Kickelbick, Guido
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Saarbrücken : Universität des Saarlandes
Freie Schlagworte
silicon; lattice strain; Raman microscopy; phase transition
Quelle
9th European Silicon Days, 9-12 September 2018, Saarbrücken, Germany, Book of abstracts, S. 197

Degradation of Li(Ni₀.₃₃MnCo₀.₃₃)O₂ in the recycling of lithium battery cathodes

Autor(en)
Sieber, Tim, Ducke, Jana, Acker, Jörg
Herausgeber
Zschech, Ehrenfried
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Dresden : Fraunhofer IKTS Dresden
Freie Schlagworte
lithium battery; recycling; nickel manganese cobalt oxide; degradation; Raman microscopy; chemical analysis
Quelle
6th Dresden Nanoanalysis Symposium - Abstract Booklet, S. 52
URL
https://www.nanoanalytik.fraunhofer.de/content/dam/nanoanalytik/de/documents/6th_Dresden_Nanoanalysis_Symposium_abstracts.pdf

Dissolution of silicon in HF/HNO3 mixtures: A revised model

Autor(en)
Rietig, Anja, Langner, Thomas, Acker, Jörg
Herausgeber
Scheschkewitz, David, Kickelbick, Guido
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Saarbrücken : Universität des Saarlandes
Freie Schlagworte
silicon; etching; Raman spectroscopy; mass spectrometry; gas analysis; reaction mechanism
Quelle
9th European Silicon Days, 9-12 September 2018, Saarbrücken, Germany, Book of abstracts, S. 199

Raman spectroscopic study on the formation of Cu3Si

Autor(en)
Meißner, André, Acker, Jörg
Herausgeber
Scheschkewitz, David, Kickelbick, Guido
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Saarbrücken : Universität des Saarlandes
Freie Schlagworte
Raman spectroscopy; silicon; lattice strain; copper silicide; direct synthesis
Quelle
9th European Silicon Days, 9-12 September 2018, Saarbrücken, Germany, Book of abstracts

Behavior of electroless copper deposition onto multi-crystalline silicon in diluted hydrofluoric acid solutions

Autor(en)
Schönekerl, Stefan, Acker, Jörg
Herausgeber
Scheschkewitz, David, Kickelbick, Guido
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Saarbrücken : Universität des Saarlandes
Freie Schlagworte
silicon; metal assisted etching; deposition; copper; dissolution
Quelle
9th European Silicon Days, 9-12 September 2018, Saarbrücken, Germany, Book of abstracts, S. 82

Development and validation of a new method for the precise and accurate determination of trace elements in silicon by ICP-OES in high silicon matrices

Autor(en)
Rietig, Anja, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2017
Freie Schlagworte
impurities; inductively coupled plasma emission spectroscopy; silicon; microwave-assisted digestion; high silicon matrix; multiple standard addition; boron; phosphorus
Quelle
Journal of Analytical Atomic Spectrometry, S. 322 - 333
Band/Jahrgang
32
Ausgabe/Heft
2
URL
http://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2017/ja/c6ja00241b#!divAbstract
DOI
https://doi.org/10.1039/C6JA00241B

Chemical etching of Tungsten thin films for high-temperature surface acoustic wave-based sensor devices

Autor(en)
Spindler, Mario, Herold, Steven, Acker, Jörg, Brachmann, Erik, Oswald, Steffen, Menzel, Siegfried, Rane, Gerd
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2016
Freie Schlagworte
SAW devices; Tungsten electrodes; Magnetron sputtering; Wet-chemical etching; Lift-off structuring
Quelle
Thin Solid Films, S. 322 - 326
Band/Jahrgang
612
URL
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S004060901630116X
DOI
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2016.04.035

Impact of the chemical form of different fluorine sources on the formation of AlF molecules in a C2H2/N2O flame

Autor(en)
Acker, Jörg, Bücker, Stefan, Hoffmann, Volker
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2016
Freie Schlagworte
flame molecular absorption spectrometry; diatomic molecule; aluminum monofluoride; C2H2/N2O flame; hexafluorosilicic acid; tetrafluoro boric acid; trifluoro acetic acid; species fragmentation
Quelle
Journal of Analytical Atomic Spectrometry, S. 902 - 911
Band/Jahrgang
31
ISSN
0267-9477
1364-5544
URL
http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2016/JA/C5JA00470E#!divAbstract
DOI
https://doi.org/10.1039/C5JA00470E

A new and fast method for determination of boron, phosphorus and other trace elements in metallurgical grade silicon

Autor(en)
Rietig, Anja, Acker, Jörg
Herausgeber
Nygaard, Lars, Pachaly, Bernd, Page, Ingrid Gamst, Rong, Harry M., Tangstad, Merete, Tveit, Halvard
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Trondheim : Department of Materials Science and Engineering, Norwegian University of Science and Technology
Freie Schlagworte
silicon; ICP-OES; impurity; chemical analysis; boron; phosphorus
Quelle
Silicon for the Chemical and Solar Industry XIII, Kristiansand, 2016, S. 95 - 106
URL
https://www.ntnu.no/trykk/publikasjoner/Silicon%20for%20the%20chemical%20and%20solar%20industry%20XIII/

Lattice-strain induced chemical reactivity of silicon

Autor(en)
Acker, Jörg, Langner, Thomas, Koschwitz, Tim
Herausgeber
Marciniec, Bogdan
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Poznań, Poland : Wielkopolska Centre for Advanced Technologies, Adam Mickiewicz University
Freie Schlagworte
silicon; lattice strain; reactivity; etching; Raman microscopy; confocal microscopy
Quelle
8th European Silicon Days 2018, Conference Proceedings, S. 124

NMR investigation of boron impurities in refined metallurgical grade silicon

Autor(en)
Grafe, Hans-Joachim, Löser, Wolfgang, Schmitz, Steffen, Sakaliyska, Miroslava, Wurmehl, Sabine, Eisert, Stefan, Reichenbach, Birk, Acker, Jörg, Rietig, Anja, Ducke, Jana
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2015
Freie Schlagworte
boron; impurity; intermetallic compounds; nuclear magnetic resonance; silicon; transition-metal diboride; Si-Al melt; removal; solidification
Quelle
Physica status solidi. A, Applications and Materials Science, S. 2031 - 2036
Band/Jahrgang
212
Ausgabe/Heft
9
ISSN
1862-6319
URL
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssa.201431908/full
DOI
https://doi.org/10.1002/pssa.201431908

Comparison of diamond wire cut and silicon carbide slurry processed silicon wafer surfaces after acidic texturisation

Autor(en)
Meinel, Birgit, Koschwitz, Tim, Blocks, Christian, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2014
Freie Schlagworte
Surface morphology; Confocal microscopy; Acidic etching; Texturisation; Diamond wire sawing; Slurry sawing; silicon; solar cell; chemical analysis
Quelle
Materials Science in Semiconductor Processing, S. 93 - 100
Band/Jahrgang
26
ISSN
1369-8001
URL
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800114001875
DOI
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2014.03.046

The Formation of AlF Molecules and Al Atoms in a C2H2/N2O Flame Studied by Absorption and Emission Spectrometry of Molecules and Atoms

Autor(en)
Acker, Jörg, Bücker, Stefan, Hoffmann, Volker
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2014
Freie Schlagworte
AlF; AlF3; AlO; diatomic molecule; high-resolution continuum source absorption spectrometry; molecular absorption spectrometry; molecular emission spectrometry; air-acetylene flame
Quelle
Current Analytical Chemistry, S. 418 - 425
Band/Jahrgang
10
Ausgabe/Heft
3
ISSN
1875-6727
1573-4110

Determination of Fluorine by Molecular Absorption Spectrometry of AlF Using a High-Resolution Continuum Source Spectrometer and a C2H2/N2O Flame

Autor(en)
Bücker, Stefan, Hoffmann, Volker, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2014
Freie Schlagworte
AlF; fluorine determination; high resolution continuum source absorption spectrometry; molecular absorption spectrometry; non-spectral interference; diatomic molecule
Quelle
Current Analytical Chemistry, S. 426 - 434
Band/Jahrgang
10
Ausgabe/Heft
3
ISSN
1573-4110
1875-6727

Segregation, grain boundary milling, and chemical leaching for the refinement of metallurgical-grade silicon for photovoltaic application

Autor(en)
Acker, Jörg, Ducke, Jana, Rietig, Anja, Müller, Tim, Eisert, Stefan, Reichenbach, Birk, Löser, Wolfgang
Herausgeber
Oye, Harald A., Brekken, Harald, Rong, Harry M., Tangstad, Merete, Tveit, Halvard
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
Trondheim : Department of Materials Science and Engineering, Norwegian University of Science and Technology
Freie Schlagworte
silicon; leaching; hydrometallurgy; solar cell; segregation; etching
Quelle
Silicon for the Chemical and Solar Industry XII, Trondheim, 2014, S. 177 - 188
ISBN
978-82-997357-8-0

The texturization process during horizontal acidic etching of multi-crystalline silicon wafers

Autor(en)
Meinel, Birgit, Koschwitz, Tim, Heinemann, Robert, Acker, Jörg
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2014
Freie Schlagworte
Acidic etching; Surface properties; Confocal microscopy; Reflectivity; Activation energy; silicon; HF/HNO3 mixture; solar cell
Quelle
Materials Science in Semiconductor Processing, S. 695 - 703
Band/Jahrgang
26
ISSN
1369-8001
URL
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S136980011400482X
DOI
https://doi.org/10.1016/j.mssp.2014.08.047

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