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Modulnummer:
| 12494
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| Modultitel: | Festkörperdiagnostik / Elektronenmikroskopie |
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Solid State Diagnostics / Electron Microscopy
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| Einrichtung: |
Fakultät 3 - Maschinenbau, Elektro- und Energiesysteme
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| Verantwortlich: | -
Prof. Dr. rer. nat. Beck, Michael
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| Lehr- und Prüfungssprache: | Deutsch |
| Dauer: | 1 Semester |
| Angebotsturnus: |
jedes Sommersemester
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| Leistungspunkte: |
5
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| Lernziele: | Nach der Teilnahme am Modul sind die Studierenden in der Lage
- geeigneter Methoden auszuwählen und sichere anzuwenden
- komplexer Aufgabenstellungen analysieren und zu strukturieren
- im Team zusammen zu arbeiten
- logisch, analytisch und konzeptionell zu denken
- verständliche Darstellung und Dokumentation von Ergebnissen
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| Inhalte: | - Ideal- und Realstruktur kristalliner Festkörper (Atombau, Baufehler, Körner)
- Gefügecharakterisierung und Strukturuntersuchung mit REM und TEM
- Chemische Analytik mit Röntgenverfahren (EDX)
- Oberflächenanalyse (AES, XPS, SIMS) und Rastersonden (AFM, STM)
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| Empfohlene Voraussetzungen: | keine |
| Zwingende Voraussetzungen: | keine |
| Lehrformen und Arbeitsumfang: | -
Vorlesung
/ 2 SWS
-
Übung
/ 1 SWS
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Praktikum
/ 1 SWS
-
Selbststudium
/ 90 Stunden
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| Unterrichtsmaterialien und Literaturhinweise: | - Tafel
- Script
- Elearning-Modul der BTU Cottbus-Senftenberg
- Internet
Literatur - P. F. Schmidt, "Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse", Expert-Verlag, Renningen, 2011
- Chr. Colliex, H. Kohl: "Elektronenmikroskopie: eine anwendungsbezogene Einführung", Wiss. Verlagsgesellschaft, Stuttgart, 2007
- M. v. Ardenne, G. Musiol, S. Reball: "Effekte der Physik und ihre Anwendungen", Harry Deutsch, Frankfurt/Main, 2005
- F. Eggert, "Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit EDX im REM", Books on Demand, Berlin, 2005
- J. Goldstein: "Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis", Kluwer Academic Press/Plenum Publishers, 2003
- E. Meyer, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy", Springer, Berlin Heidelberg; 2003
- R. Eckert: "Sehen heißt Wissen", E. Kurz & Co., Stuttgart 1998
- L. Reimer: "Scanning electron microscopy: physics of imageformation and microanalysis", Springer, Berlin, Heidelberg, 1998
- H.-J. Hunger (Hrsg.): "Werkstoffanalytische Verfahren: eineAuswahl", Dt. Verlag für Grundstoffindustrie, Stuttgart, 1995
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| Modulprüfung: | Modulabschlussprüfung (MAP) |
| Prüfungsleistung/en für Modulprüfung: | |
| Bewertung der Modulprüfung: | Prüfungsleistung - benotet |
| Teilnehmerbeschränkung: | keine |
| Zuordnung zu Studiengängen: | -
Master (anwendungsbezogen) /
Elektrotechnik /
PO 2018
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Master (anwendungsbezogen) - erweiterte Fachsemester /
Elektrotechnik /
PO 2018
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| Bemerkungen: | keine |
| Veranstaltungen zum Modul: | - 330007 Vorlesung Festkörperdiagnostik/ Elektronenmikroskopie
- 330038 Übung Festkörperdiagnostik/ Elektronenmikroskopie
- 330039 Laborausbildung Festkörperdiagnostik/ Elektronenmikroskopie
- 330067 Prüfung Festkörperdiagnostik/ Elektronenmikroskopie
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| Veranstaltungen im aktuellen Semester: | |
