In Kooperation mit der Infineon Technologies AG und der Universität Potsdam (Prof. Dr. Gössel) werden Methoden und Schaltungen für den hierarchischen Selbstest in Systems on a Chip (SoCs) entwickelt. Funktionen, die üblicherweise ein digitaler Testautomat liefert, werden partiell einem eingebauten Testprozessor übertragen. Damit soll ein Scan-basierter Test einzelner Baugruppen wie auch ein funktionaler Test unter Realzeit-Bedingungen und eine Funktionsüberwachung (watchdog-Funktion) möglich sein.