12505 - Test und testfreundlicher Entwurf digitaler Schaltungen und Systeme Modulübersicht

Modulnummer: 12505 - Modul nicht mehr im Angebot ab WS 2010/11
Modultitel:Test und testfreundlicher Entwurf digitaler Schaltungen und Systeme
  Test and Design for Testability for Digital Systems
Einrichtung: Fakultät 1 - Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik
Verantwortlich:
  • Prof. Dr.-Ing. Vierhaus, Heinrich
Lehr- und Prüfungssprache:Deutsch
Dauer:1 Semester
Angebotsturnus: jedes Wintersemester
Leistungspunkte: 6
Lernziele:Studierende lernen, digitale Schaltungen und Systeme systematisch für gute Testbarkeit oder für den eingebauten Selbsttest zu entwerfen. Sie beherrschen die wesentlichen Methoden und Werkzeuge für den systematischen testfreundlichen Entwurf und können die Testbarkeit und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen analysieren und beurteilen.
Inhalte:Definitionen: Test, Validierung, Verifikation. Test wann und wo: IC-Test als Spezialfall, Fertigungstest, On-line und off-line-Test. Struktur-orientierter Test: Komplexität, Fehlermodelle, Testbarkeit über Spannungen und Ströme, Testerzeugung, Fehlersimulation. Systematischer testfreundlicher Entwurf: Partitioinierung, Test-Access, Scan-Test, Boundary Scan, Kompression und Dekompression von Testdaten, Fehlerdiagnose beim Scan-Test. Eingebauter Selbsttest: Basis-Strukturen (LFSR, MISR), deterministischer BIST. Speichertest: Fehlermodelle, Komplexität, March-Tests, BIST. On-line-Test: Fehlererkennungsschaltungen, Fehlerkompensation. Testgeräte: IC-Tester, Fehleranalyse.
Empfohlene Voraussetzungen:Gute Kenntnisse der Digitaltechnik und elektronischer Grundlagen integrierter Schaltungen.
Zwingende Voraussetzungen:keine
Lehrformen und Arbeitsumfang:
  • Vorlesung / 2 SWS
  • Praktikum / 2 SWS
  • Selbststudium / 120 Stunden
Unterrichtsmaterialien und Literaturhinweise:Skript der Vorlesung und Präsentationen sind elektronisch verfügbar. Literaturliste wird zu Beginn der Veranstaltung bekannt gegeben. Aufgaben und Versuchsanleitungen sind elektronisch verfügbar.
Modulprüfung:Keine Angabe - Angabe ab Wintersemester 2016/17 erforderlich!
Prüfungsleistung/en für Modulprüfung:Erfolgreiche Teilnahme an praktischen Übungen (Schein, unbenotet). Mündliche Prüfung.
Bewertung der Modulprüfung:Prüfungsleistung - benotet
Teilnehmerbeschränkung:keine
Zuordnung zu Studiengängen:
  • keine Zuordnung vorhanden
Bemerkungen:Die Unterrichtssprache in diesem Modul kann auch Englisch sein.
- Studiengang Informatik Diplom, Säule „Angewandte und Technische Informatik“, Niveaustufe 500
- Studiengang Informatik Master, Komplex „Angewandte und Technische Informatik", Niveaustufe 500
- Studiengang IMT Master, Komplex „Rechnerbasierte Systeme"
- Studiengang Physik, Wahlfach (bei guten Kenntnissen der Elektronik)
Veranstaltungen zum Modul:keine
Veranstaltungen im aktuellen Semester:
  • keine Zuordnung vorhanden
Nachfolgemodul/e: Auslaufmodul ab: 04.10.2010