EMV 2016 - Internationale Fachmess und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, S. 139 - 146
ISBN
978-3-86359-396-4
Untersuchungen von Antennenstrukturen für Störfestigkeitstests im Nahfeld
Autor(en)
Saul, Enrico, Bönisch, Sven
Herausgeber
Lehmann, Kathrin, Simon, Sylvio, Stein, Erhard
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
Senftenberg : Brandenburgische Techn. Univ.
Quelle
1. Ingenieurtag 2014, Veranstaltung der Fakultät Ingenieurwissenschaften und Informatik der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus-Senftenberg auf dem Campus Senftenberg am 19.11.2014
ISBN
3-9810211-7-7
Potential Induced Degradation (PID) in Utility-Scale PV Plants: Fast Detection using String-Monitoring Systems
Autor(en)
Carretero, A., Schnitzer, S., Hoffmann, H., Bönisch, Sven
Conducted emission simulation of an industrial high power current source
Autor(en)
Bucke, Danny, Hemp, Ionel, Göhler, Lutz, Bönisch, Sven
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2013
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
EMC-Europe 2013, International Symposium Electromagnetic Compatibility, Brugge, Belgium 2. - 6. September 2013, S. 676 - 681
An automated Test Set-up for the dynamic Characterization of IGBT Modules under different thermal and electrical Conditions
Autor(en)
Hemp, Ionel, Göhler, Lutz, Bönisch, Sven
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2013
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Quelle
PCIM 2013, International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, Nürnberg, 14 - 16 May 2013, S. 888 - 895
ISBN
978-3-8007-3505-1
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