Photoelektron-Impuls-Mikroskopie
Bei diesem Verfahren wird ein Elektron mit hoher kinetischer Energie durch einen Sondenimpuls von einer Oberfläche eines Materials, einer Molekülschicht oder einem ausgerichteten Molekül abgelöst. Gemessen wird die Impulsverteilung eines Photoelektrons. Aufgrund der hohen kinetischen Energie hat das Photoelektron eine ultrakurze de Broglie-Wellenlänge und seine Impulsverteilung enthält Details über die zugehörigen Orbitale mit einer Auflösung im Subnanometerbereich. Wird ein Photoelektron durch einen ultrakurzen Sondenpuls abgelöst, lässt sich die Elektronendynamik zeitaufgelöst verfolgen.

Attosekunden-XUV-Bildgebung mit Photoelektronen (Theorie):
https://journals.aps.org/pra/abstract/10.1103/PhysRevA.94.013412
https://journals.aps.org/pra/abstract/10.1103/PhysRevA.107.023101
Femtosekunden-XUV-Bildgebung mit Photoelektronen (Theorie und Experiment):
https://www.nature.com/articles/s41467-022-30404-6
https://www.cui-advanced.uni-hamburg.de/en/research/wissenschaftsnews/22-05-18-surface.html