Zentraler Gegenstand der Forschung sind neue Architekturen und Entwurfsmethoden für hoch-zuverlässige Elektroniksysteme. Dazu gehören:

• Verfahren für den Test, den Selbsttest und die Fehlerdiagnose digitaler Schaltungen nach der Fertigung und im Betrieb,
• Verfahren für die Selbstreparatur digitaler Schaltungen und Systeme,
• Verfahren für Fehlertoleranz bei minimaler Verlustleistung,
• Entwurf, Validierung und Synthese optimierter anwendungsspezifischer Prozessoren und Compiler für zuverlässige Systeme,
• Fehlerinjektion und Fehlersimulation für komplexe Schaltungen.