UBICO bis 2018 : Fachgebiet Technische Informatik

Publikationen

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Runtime Adaptive Cache for the LEON3 Processor

Autor(en): Guzman, Osvaldo Navarro, Hübner, Michael
Herausgeber: Voros, Nikolaos S., Hübner, Michael, Keramidas, Georgios, Göhringer, Diana, Antonopoulos, Christos, Diniz, Pedro C.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Cham : Springer
Quelle: Proceedings, 14th International Symposium on Applied Reconfigurable Computing, Santorini, Greece, May 2-4, 2018, S. 343 - 354

Exploring Deep Neural Networks for Regression Analysis

Autor(en): Janßen, Benedikt, Kästner, Florian, Kautz, Frederik, Hübner, Michael
Herausgeber: Hübner, Michael, Rückemann, Claus-Peter
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: [Wilmington] : IARIA
Quelle: PESARO 2018, the Eighth International Conference on Performance, Safety and Robustness in Complex Systems and Applications, April 22-26, 2018, Athens, Greece /
ISBN: 978-1-61208-628-6

General-Purpose Computing with Soft GPUs on FPGAs

Autor(en): Al Kadi, Muhammed Soubhi, Janßen, Benedikt, Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Hübner, Michael
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: ACM Transactions on Reconfigurable Technology and Systems
Band/Jahrgang: 11
Ausgabe/Heft: 1
ISSN: 1936-7406
DOI: https://doi.org/10.1145/3173548

CGRA Tool Flow for Fast Run-Time Reconfiguration

Autor(en): Fricke, Florian, Werner, André, Shahin, Keyvan, Hübner, Michael
Herausgeber: Voros, Nikolaos S., Hübner, Michael, Keramidas, Georgios, Göhringer, Diana, Antonopoulos, Christos, Diniz, Pedro C.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Cham : Springer
Quelle: Proceedings, 14th International Symposium on Applied Reconfigurable Computing, Santorini, Greece, May 2-4, 2018, S. 661 - 672
ISBN: 978-3-319-78889-0; 978-3-319-78890-6
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-319-78890-6_53

Design of an efficient Communication Architecture for Cyber-Physical Production Systems

Autor(en): Kästner, Florian, Kuschnerus, Dirk, Spiegel, Christoph, Janßen, Benedikt, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 14th International Conference on Automation Science and Engineering (CASE) Munich, Germany, August 20-24, 2018, S. 829 - 835
ISBN: 978-1-5386-3593-3
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/8560563
DOI: https://doi.org/10.1109/COASE.2018.8560563

A Survey on Formal Verification Techniques for Safety-Critical Systems-on-Chip

Autor(en): Grimm, Tomas, Hübner, Michael, Lettnin, Djones
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: Electronics
Band/Jahrgang: 7
Ausgabe/Heft: 6
ISSN: 2079-9292
DOI: https://doi.org/10.3390/electronics7060081

Hardware/Software Codesign for Convolutional Neural Networks exploiting Dynamic Partial Reconfiguration on PYNQ

Autor(en): Kästner, Florian, Janßen, Benedikt, Kautz, Frederik, Hübner, Michael, Corradi, Giulio
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 32nd International Parallel and Distributed Processing Symposium workshops, IPDPSW 2018, proceedings, 21-25 May 2018, Vancouver, British Columbia, Canada, S. 154 - 161
ISBN: 978-1-5386-5555-9
URL: https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/8425398

A Dynamic Partial Reconfigurable Overlay Framework for Python

Autor(en): Janßen, Benedikt, Kästner, Florian, Wingender, Tim, Hübner, Michael
Herausgeber: Voros, Nikolaos S., Hübner, Michael, Keramidas, Georgios, Göhringer, Diana, Antonopoulos, Christos, Diniz, Pedro C.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Cham : Springer
Quelle: Proceedings, 14th International Symposium on Applied Reconfigurable Computing, Santorini, Greece, May 2-4, 2018, S. 331 - 342
ISBN: 978-3-319-78889-0; 978-3-319-78890-6
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Lecture Notes in Computer Science ; 10824

Optimal Dependability and Fine Granular Error Resilience Methodology for Reconfigurable Systems

Autor(en): Hosseinzadeh, Farnoosh, Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 21st Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2018, 29-31 August 2018, Prague, Czech Republic, proceedings, S. 206 - 213
ISBN: 978-1-5386-7377-5
DOI: https://doi.org/10.1109/DSD.2018.00048

RESCUE: Cross-Sectoral PhD Training Concept for Interdependent Reliability, Security and Quality

Autor(en): Vierhaus, Heinrich Theodor, Jenihhin, Maksim, Sonza-Reorda, Matteo
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 2018 Proceedings of the 12th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), Braunschweig, 24-26 Sept. 2018, S. 45 - 50
ISBN: 978-1-5386-9114-4
DOI: https://doi.org/10.1109/EWME.2018.8629465

A Microwave Triple-Band Bandpass Filter using parallel Stepped Impedance Resonator

Autor(en): Vishwakarma, Abhinav, Tripathi, G. S.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: International Journal of creative Research, S. 1217 - 1219
URL: http://ijcrt.org/viewfull.php?&p_id=IJCRT1802595

An Application Specific Framework for HLS-based FPGA Design of Articulated Robot Inverse” Kinematics

Autor(en): Mahmood, Safdar, Shydlouski, Pavel, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: International Conference on ReConFigurable Computing and FPGAs (ReConFig)
ISBN: 978-1-7281-1968-7; 978-1-7281-1969-4
DOI: https://doi.org/10.1109/RECONFIG.2018.8641691

AIDS: An ICT model for integrating teaching, learning and research in Technical University Education in Ghana

Autor(en): Asabere, Nana Yaw, Togo, Gilbert, Acakpovi, Amevi, Torgby, Wisdom Kwawu, Ampadu, Kwame Owusu
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: The International Journal of Education and Development using Information and Communication Technology, S. 162 - 183
URL: http://ijedict.dec.uwi.edu/search.php?op=authorDetail&id=3554

A Low-Cost BRAM-Based Function Reuse for Configurable Soft-Core Processors in FPGAs

Autor(en): Becker, Pedro H. Exenberger, Sartor, Anderson L., Brandalero, Marcelo, Jost, Tiago Trevisan, Wong, Stephan, Carro, Luigi, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: Cham : Springer
Quelle: Applied Reconfigurable Computing. Architectures, Tools, and Applications14th International Symposium, ARC 2018, Santorini, Greece, May 2-4, 2018, Proceedings, S. 499 - 510
ISBN: 978-3-319-78889-0; 978-3-319-78890-6
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-319-78890-6_40

Employing classification-based algorithms for general-purpose approximate computing

Autor(en): Oliveira, Geraldo Francisco, Gonçalves, Larissa Rozales, Brandalero, Marcelo, Beck, Antonio Carlos Schneider, Carro, Luigi
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: 2018 55th ACM/ESDA/IEEE Design Automation Conference (DAC), S. 701 - 706
ISBN: 978-1-5386-4114-9; 978-1-5386-4115-6
DOI: https://doi.org/10.1109/DAC.2018.8465822

Approximate on-the-fly coarse-grained reconfigurable acceleration for general-purpose applications

Autor(en): Brandalero, Marcelo, Carro, Luigi, Beck, Antonio Carlos Schneider, Shafique, Muhammad
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: 2018 55th ACM/ESDA/IEEE Design Automation Conference (DAC), S. 1601 - 1606
ISBN: 978-1-5386-4114-9; 978-1-5386-4115-6
DOI: https://doi.org/10.1109/DAC.2018.8465930

Efficient Local Memory Support for Approximate Computing

Autor(en): Brandalero, Marcelo, Malfatti, Guilherme Meneguzzi, Oliveira, Geraldo Francisco, Silveira, Leonardo Almeida da, Gonçalves, Larissa Rozales, Da Silva, Bruno Castro, Carro, Luigi, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: 2018 VIII Brazilian Symposium on Computing Systems Engineering (SBESC), S. 122 - 129
ISBN: 978-1-7281-0240-5; 978-1-7281-0241-2
DOI: https://doi.org/10.1109/SBESC.2018.00026

The Effects of Voltage Scaling on Reliability and Power Consumption in Multiprocessor Systems

Autor(en): Veleski, Mitko, Kraemer, Rolf, Krstic, Milos
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Quelle: Proc. 30. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 38 (2018)
URL: https://www.ihp-microelectronics.com/en/research/wireless-systems-and-applications/publications/publications-2018.html

Towards a Safety and Energy Aware protocol for Wireless Communication

Autor(en): Hoffmann, Javier Eduardo, Kuschnerus, Dirk, Jones, Trevor, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2018
Verlag: IEEE : Piscataway, NJ
Quelle: 13th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), Lille
ISBN: 978-1-5386-7957-9; 978-1-5386-7958-6
DOI: https://doi.org/10.1109/ReCoSoC.2018.8449380

Tool flow for automatic generation of architectures and test-cases to enable the evaluati-on of CGRAs in the context of HPC applications

Autor(en): Fricke, Florian, Werner, André, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Conference on Design and Architectures for Signal and Image Processing (DASIP), 27-29 Sept. 2017, Dresden, Germany
ISBN: 978-1-5386-3534-6
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/8122124
DOI: https://doi.org/10.1109/DASIP.2017.8122124

Automatic Generation of RTL Connectivity Checkers for Automotive Gateways from SystemC TLM Models

Autor(en): Grimm, Tomas, Lettnin, Djones, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: IEEE Nordic Circuits and Systems Conference, 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark
ISBN: 978-1-5090-1095-0
DOI: https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792922

Fault Detection and Self Repair in Hsiao-Code FEC Circuits

Autor(en): Dicorato, Davide, Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 19-21 April 2017, Dresden, Germany
ISBN: 978-1-5386-0471-7; 978-1-5386-0472-4

On Implementation and Usage of Muller C-element in FPGA-based Dependable Systems

Autor(en): Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 22nd IEEE International Conference on Applied Electronics, Pilsen, 5-6 September 2017, S. 163 - 166
ISBN: 978-80-261-0641-8; 978-80-261-0642-5

Fast Power Overhead Prediction for Hardware Redundancy-based Fault Tolerance

Autor(en): Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 3-5 July 2017, Hotel Makedonia Palace, Thessaloniki, Greece, S. 265 - 270
ISBN: 978-1-5386-0351-2; 978-1-5386-0352-9

On Comparison of Configurable Encoders in Xilinx and Altera FPGAs

Autor(en): Pfeifer, Petr, Hosseinzadeh, Farnoosh, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 22nd 2017 International Conference on Applied Electronics, Pilsen, 5-6 September 2017, S. 159 - 162
ISBN: 978-80-261-0642-5; 978-80-261-0641-8
DOI: https://doi.org/10.23919/AE.2017.8053605

On Comparison of Robust Configurable FPGA Encoders for Dependable Industrial Communication Systems

Autor(en): Pfeifer, Petr, Hosseinzadeh, Farnoosh, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 3-5 July 2017, Thessaloniki, Greece, S. 199 - 200
ISBN: 978-1-5386-0352-9

Hoch-zuverlässige schnelle Encoder / Decoder für drahtlose Übertragungssysteme

Autor(en): Dicorato, Davide, Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Quelle: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2017), 5.-7. März 2017, Lübeck
URL: https://www.researchgate.net/publication/317278669

Extended Hsiao-Code Error Correction Considering Double and Triple Bit Errors

Autor(en): Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Quelle: RESCUE 2017, Workshop on Reliability, Security and Quality, ETS17 Fringe Workshop, At Limassol, Cyprus
URL: https://www.researchgate.net/publication/317265493

Forward Error Correction in Industrial Wireless Communication

Autor(en): Pfeifer, Petr, Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Berlin : VDE Verlag
Quelle: Zuverlässigkeit und Entwurf, 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung vom 18.-20. September 2017 in Cottbus
ISBN: 978-3-8007-4444-2
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: ITG-Fachbericht ; 274

Forward Error Correction in Wireless Communication Systems for Industrial Applications

Autor(en): Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: SPA 2017, Signal Processing: Algorithms, Architectures, Arrangements, and Applications, conference proceedings, Poznan, 20-22nd September 2017, S. 14
ISBN: 978-83-62065-30-1

A Microwave Dual-Band Bandpass Filter for L Band Application

Autor(en): Vishwakarma, Abhinav, Tripathi, G. S.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Quelle: International Journal for Scientific Research & Development, S. 379 - 380
URL: http://ijsrd.com/Article.php?manuscript=IJSRDV5I20487

Design and Implementation of Dual-Band BandpassFilter Using Tappered E Shaped Dual Mode Open Loop Resonator

Autor(en): Vishwakarma, Abhinav, Tripathi, G. S.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Quelle: Global Research and Development Journal for Engineering, S. 183 - 186
URL: http://www.grdjournals.com/uploads/article/GRDJE/V02/I06/0046/GRDJEV02I060046.pdf

A Mechanism for energy-efficient reuse of decoding and scheduling of x86 instruction streams

Autor(en): Brandalero, Marcelo, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Quelle: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, S. 1468 - 1473
ISBN: 978-3-9815370-8-6; 978-3-9815370-9-3; 978-1-5090-5826-6
DOI: https://doi.org/10.23919/DATE.2017.7927223

Analysis of Hardware Implementations to Accelerate Convolutional and Recurrent Neuronal Networks

Autor(en): Kästner, Florian, Guzman, Osvaldo Navarro, Janßen, Benedikt, Hoffmann, Javier Eduardo, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: IARIA
Quelle: International Journal on Advances in Software, S. 308 - 323
URL: http://www.iariajournals.org/software/soft_v10_n34_2017_paged.pdf

A survey on CNN and RNN implementations

Autor(en): Hoffmann, Javier Eduardo, Guzman, Osvaldo Navarro, Kästner, Florian, Janßen, Benedikt, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Wilmington, DE, USA : IARIA
Quelle: PESARO 2017, The Seventh International Conference on Performance, Safety and Robustness in Complex Systems and Applications, S. 33 - 39
ISBN: 978-1-61208-549-4

A machine learning methodology for cache recommendation

Autor(en): Guzman, Osvaldo Navarro, Mori, Jones, Hoffmann, Javier Eduardo, Stuckmann, Fabian, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Verlag: Cham : Springer
Quelle: Applied Reconfigurable Computing : 13th International Symposium, ARC 2017, Delft, The Netherlands, April 3-7, 2017, Proceedings, S. 311 - 322
ISBN: 978-3-319-56258-2; 978-3-319-56257-5
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-319-56258-2_27
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Lecture Notes in Computer Science book series ; volume 10216

An Overview of Cross-Layer Resilience Design Methods

Autor(en): Veleski, Mitko, Kraemer, Rolf, Krstic, Milos
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Quelle: RESCUE 2017, Limassol
URL: https://www.researchgate.net/publication/349116576_An_Overview_of_Cross-Layer_Resilience_Design_Methods

From online fault detection to fault management in Network-on-Chips: A ground-up approach

Autor(en): Azad, Siavoosh Payandeh, Niazmand, Behrad, Janson, Karl, George, Nevin, Oyeniran, Stephen Adeboye, Putkaradze, Tsotne, Kaur, Apneet, Raik, Jaan, Jervan, Gert, Ubar, Raimund, Hollstein, Thomas
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2017
Quelle: IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Dresden, Germany, 19-21 April 2017
ISBN: 978-1-5386-0472-4; 978-1-5386-0473-1
DOI: https://doi.org/10.1109/DDECS.2017.7934565

IDDD: An Interactive Dependability Driven Design Space Exploration

Autor(en): Scharoba, Stefan, Lorenz, Jacob, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 14 – 18 March 2016 ICC, Dresden, Germany
ISBN: 978-3-9815370-6-2

Flexible Test, Error Detection and Correction in Dependable Communication Systems incl. Results on 28nm Xilinx and Altera FPGAs

Autor(en): Pfeifer, Petr, Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Kosice, Slovakia, 2016, S. 26 - 31
ISBN: 978-80-8086-256-5

Test of automotive embedded processors with high diagnostic resolution

Autor(en): Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Kosice, Slovakia, 2016, S. 1 - 6
ISBN: 978-80-8086-256-5

Non-Cyclic Design Space Exploration for ASIPS - Compiler-Centered Microprocessor Design (CoMet)

Autor(en): Urban, Roberto, Vierhaus, Heinrich Theodor, Schölzel, Mario, Altmann, Enrico, Seelig, Horst
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: Journal of Circuits, Systems and Computers
Band/Jahrgang: 25
Ausgabe/Heft: 3
ISSN: 0218-1266; 1793-6454
DOI: https://doi.org/10.1142/S0218126616400120

FPGAs getting teeny! What can we expect from them?

Autor(en): Pfeifer, Petr
Herausgeber: Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Stuttgart : Fraunhofer Verlag
Quelle: DASS 2016, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf

Test and Error Correction in a Dependable Wireless Communication System

Autor(en): Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: BEC 2016, 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016 Tallinn, Estonia, S. 119 - 122
ISBN: 978-1-5090-1392-0; 978-1-5090-1393-7

A New Area-efficient Reconfigurable Encoder Architecture for Flexible Error Detection and Correction in Dependable Communication Systems

Autor(en): Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: BEC 2016, 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016 Tallinn, Estonia, S. 87 - 90
ISBN: 978-1-5090-1392-0; 978-1-5090-1393-7

Iterative Error Correction with Double / triple Error Detection

Autor(en): Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Signal Processing: Algorithms, Architectures, Arrangements, and Applications (SPA), 21-23 Sept. 2016, Poznan, S. 14 - 19
ISBN: 978-83-62065-25-7; 978-83-62065-27-1

ReSeCu4 AMBRAMs - Towards Increased Reliability and Hardware Security on Modern Nanoscale FPGAs

Autor(en): Pfeifer, Petr
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 14 – 18 March 2016 ICC, Dresden, Germany

An Interactive Design Space Exploration Tool for Dependable Integrated Circuits

Autor(en): Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: DSD 2016, proceedings, 19th Euromicro Conference in Digital System Design, 31 August-2 September 2016, Limassol, Cyprus, S. 714 - 717
ISBN: 978-1-5090-2817-7

A Comprehensive Software-Based Self-Test and Self-Repair Method for Statically Scheduled Superscalar Processors

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Müller, Sebastian, Scharoba, Stefan, Röder, Stefanie, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 17th IEEE Latin-American Test Symposium - LATS 2016, S. 33 - 38
ISBN: 978-1-5090-1331-9

Enabling Dynamic Reconfiguration of Numerical Methods for the Robotic Motion Control Task

Autor(en): Schwiegelshohn, Fynn, Kästner, Florian, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 23rd Reconfigurable Architectures Workshop (RAW 2016), Chicago, USA, S. 283 - 288
ISBN: 978-1-5090-3682-0

A Hardware/Software Co-Design Approach for Control Applications with Static Real-Time Reallocation

Autor(en): Janßen, Benedikt, Naserddin, Moataz, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 23rd Reconfigurable Architectures Workshop (RAW 2016), Chicago, USA
ISBN: 978-1-5090-3682-0

FGPU: An SIMT-Architecture for FPGAs

Autor(en): Al Kadi, Muhammed Soubhi, Janßen, Benedikt, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: New York, NY : ACM, Association for Computing Machinery
Quelle: FPGA '16 Proceedings of the 2016 ACM/SIGDA International Symposium on Field-Programmable Gate Arrays, Monterey, California, USA — February 21 - 23, 2016, S. 254 - 263
ISBN: 978-1-4503-3856-1; 978-1-4503-4468-5

A resampling method for parallel particle filter architectures

Autor(en): Schwiegelshohn, Fynn, Ossovski, Eugen, Hübner, Michael
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: Microprocessors & Microsystems, S. 314 - 320
Band/Jahrgang: 47, B
ISSN: 0141-9331
DOI: https://doi.org/10.1016/j.micpro.2016.07.017

A Dynamic Cache Reconfiguration Platform for Soft Real-Time Systems

Autor(en): Navarro, Osvaldo, Leiding, Tim, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 11-14 Dec. 2016, Monte Carlo, Monaco, S. 388 - 391
ISBN: 978-1-5090-6113-6
DOI: https://doi.org/10.1109/ICECS.2016.7841214

Information Fusion of Conflicting Input Data

Autor(en): Mönks, Uwe, Dörksen, Helene, Lohweg, Volker, Hübner, Michael
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: Sensors
Band/Jahrgang: 16
Ausgabe/Heft: 11
ISSN: 1424-8220

Tomografische Verfahren für intelligente Sensoren in der Prozessautomatisierung

Autor(en): Musch, Thomas, Hübner, Michael, Gebhardt, Patrick, Abrolat, Jan Christoph, Gevers, Martin, Vogt, Michael
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: atp plus : das Magazin der Automatisierungstechnik : Sonderausgabe, S. 34 - 41
Band/Jahrgang: 1
ISSN: 2510-3911

Integer Computations with Soft GPGPU on FPGAs

Autor(en): Al Kadi, Muhammed Soubhi, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Proceedings of the 2016 International Conference on Field-Programmable Technology (FPT), Dec. 07-09, 2016, Xi'an China
ISBN: 978-1-5090-5602-6
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/7929185

Prozessanlagenplanung 2.0 Netzarchitektur aus Vefahrensbeschreibung ableiten

Autor(en): Glock, Thomas, Kern, Matthias, Otten, Stefan, Sax, Eric, Hillenbrand, Martin, Hübner, Michael
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: atp edition, S. 28 - 39
Band/Jahrgang: 58
Ausgabe/Heft: 10
ISSN: 2190-4111

FPGA design of numerical methods for the robotic motion control task exploiting high-level synthesis

Autor(en): Schwiegelshohn, Fynn, Kästner, Florian, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: IEEE International Conference on the Science of Electrical Engineering (ICSEE), 16-18 Nov. 2016, Eilat, Israel
ISBN: 978-1-5090-2152-9
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/7806074

Redesign of an Educational Robot Platform Using Web-based Programming

Autor(en): Fricke, Florian, Werner, André, Janßen, Benedikt, Hübner, Michael, Ribbe, Clemens, Cengizhan, Inac
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: New York, NY : ACM
Quelle: Proceedings of the 2016 Workshop on Embedded and Cyber-Physical Systems Education, Pittsburgh, PA, USA - October 01-07, 2016
ISBN: 978-1-4503-4657-3
DOI: https://doi.org/10.1145/3005329.3005332

Development of Advanced Driver Assistance Systems using LabVIEW and a Car Simulator

Autor(en): Janßen, Benedikt, Wehner, Philipp, Göhringer, Diana, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: New York, NY : ACM
Quelle: Proceedings of the 2016 Workshop on Embedded and Cyber-Physical Systems Education, Pittsburgh, PA, USA - October 01-07, 2016
ISBN: 978-1-4503-4657-3
DOI: https://doi.org/10.1145/3005329.3005330

Multi-level parallelism analysis and system-level simulation for many-core vision processor design

Autor(en): Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 5th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), Bar, Montenegro, June 12th-16th, S. 90 - 95
ISBN: 978-1-5090-2222-9
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/7525710

AutoReloc: Automated Design Flow for Bitstream Relocation on Xilinx FPGAs

Autor(en): Lalevée, André, Horrein, Pierre-Henri, Arzel, Matthieu, Hübner, Michael, Vaton, Sandrine
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: DSD 2016, proceedings, 19th Euromicro Conference in Digital System Design, 31 August-2 September 2016, Limassol, Cyprus, S. 14 - 21
ISBN: 978-1-5090-2817-7
DOI: https://doi.org/10.1109/DSD.2016.92

EXTRA: Towards the Exploitation of eXascale Technology for Reconfigurable Architectures

Autor(en): Stroobandt, Dirk, Al Kadi, Muhammed Soubhi, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 11th International Symposium on Reconfigurable Communication-Centric Systems-on-Chip (ReCoSoc), June 27-29, 2016, Tallinn, Estonia
ISBN: 978-1-5090-2520-6
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/7533896

Computation and Communication Challenges to Deploy Robots in Assisted Living Environments

Autor(en): Keramidas, Georgios, Antonopoulos, Christos, Voros, Nikolaos S., Schwiegelshohn, Fynn, Wehner, Philipp, Rettkowski, Jens, Göhringer, Diana, Hübner, Michael, Konstantopoulos, Stasinos, Giannakopoulos, Theodore, Karkaletsis, Vangelis, Mariatos, Vaggelis
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 14-18 March 2016 Dresden, Germany, S. 888 - 893
ISBN: 978-3-9815370-7-9
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/7459434

A Design Methodology for the Next Generation Real-Time Vision Processors

Autor(en): Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Werner, André, Shallufa, Arij, Fricke, Florian, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Cham : Springer
Quelle: Applied reconfigurable computing, 12th international symposium, ARC 2016, Mangaratiba, RJ, Brazil, March 22-24, 2016, S. 14 - 25
ISBN: 978-3-319-30480-9; 978-3-319-30481-6
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Lecture notes in computer science ; 9625

A rapid prototyping method to reduce the design time in commercial high-level synthesis tools

Autor(en): Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Werner, André, Fricke, Florian, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 23rd Reconfigurable Architectures Workshop (RAW 2016), Chicago, USA, S. 253 - 258
ISBN: 978-1-5090-3682-0

Efficient Camera Input System and Memory Partition for a Vision Soft-Processor

Autor(en): Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Kautz, Frederik, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Cham : Springer
Quelle: Applied reconfigurable computing, 12th international symposium, ARC 2016, Mangaratiba, RJ, Brazil, March 22-24, 2016, S. 328 - 333
ISBN: 978-3-319-30480-9; 978-3-319-30481-6
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Lecture notes in computer science ; 9625

Enabling indoor object localization through Bluetooth beacons on the RADIO robot platform

Autor(en): Schwiegelshohn, Fynn, Wehner, Philipp, Werner, Florian, Gohringer, Diana, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Proceedings, 2016 International Conference on Embedded Computer Systems, Architectures, Modeling and Simulation (SAMOS XVI), July 17-21, 2016, Samos, Greece, S. 328 - 333
ISBN: 978-1-5090-3076-7
DOI: https://doi.org/10.1109/SAMOS.2016.7818366

Design and implementation of a fire detection and control system for automobiles using fuzzy logic

Autor(en): Sowah, Robert A., Ampadu, Kwame Owusu, Ofoli, Abdul R., Koumadi, Koudjo, Mills, Godfrey A., Nortey, Joseph
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: IEEE Industry Application Society 52nd Annual Meeting : October 2-6, 2016, Portland, OR : conference record
ISBN: 978-1-4799-8397-1; 978-1-4799-8396-4
DOI: https://doi.org/10.1109/IAS.2016.7731880

Potential analysis of a superscalar core employing a reconfigurable array for improving instruction-level parallelism

Autor(en): Brandalero, Marcelo, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: Special Issue on “SBESC Embedded Systems 2014”, S. 155 - 169
DOI: https://doi.org/10.1007/s10617-016-9174-4

The Potential of Accelerating Image-Processing Applications by Using Approximate Function Reuse

Autor(en): Silveira, Leonardo Almeida da, Brandalero, Marcelo, Souza, Jeckson Dellagostin de, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: 2016 VI Brazilian Symposium on Computing Systems Engineering (SBESC), S. 122 - 127
ISBN: 978-1-5090-2653-1; 978-1-5090-2654-8
DOI: https://doi.org/10.1109/SBESC.2016.026

A multiple-ISA reconfigurable architecture

Autor(en): Capella, Fernanda M., Brandalero, Marcelo, Carro, Luigi, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Quelle: Special Issue on “Selected papers from the 2013 Brazilian Symposium on Computing Systems Engineering (SBESC 2013)”, S. 329 - 344

Towards a Perspective of the Role of Mathematics in Computer Science and Engineering (CSE) Education

Autor(en): Asabere, Nana Yaw, Acakpovi, Amevi, Torgby, Wisdom Kwawu, Mends-Brew, Edwin, Ampadu, Kwame Owusu
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2016
Verlag: London : Sysbase Solution
Quelle: International Journal of Computer Science and Telecommunications, S. 5 - 9
URL: https://www.ijcst.org/Volume7/Issue1.html

Compiler-Centred Microprocessors Design (CoMet) - From C-Code to a VHDL Model of an ASIP

Autor(en): Urban, Roberto, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor, Altmann, Enrico, Seelig, Horst
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, DDECS 2015, 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia, proceedings, S. 17 - 22
ISBN: 978-1-4799-6779-7; 978-1-4799-6780-3

Exploring diagnostic capabilities of software-based self-tests for production and in-field application

Autor(en): Koal, Tobias, Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Proceedings of the 2015 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and Their Application to Mechatronics (ECMSM), June 22-24, 2015, Liberec, Czech Republic, S. 1 - 6
ISBN: 978-1-4799-6970-8; 978-1-4799-6973-9

Towards an Interactive Dependability-Aware Design Space Exploration

Autor(en): Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Linz : Johannes Kepler Universität
Quelle: Proceedings of the work in progress session held in connection with SEAA 2015, the 41st EUROMICRO Conference on Software Engineering and Advanced Applications and DSD 2015, the 18th EUROMICRO Conference on Digital System Design, Funchal, Madeira
ISBN: 978-3-902457-44-8

Error Resilience in Digital Integrated Circuits

Autor(en): Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Proceedings of the 2015 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and Their Application to Mechatronics (ECMSM), June 22-24, 2015, Liberec, Czech Republic
ISBN: 978-1-4799-6970-8

Erzeugung diagnostischer Testmuster unter komplexen Contraints

Autor(en): Koal, Tobias, Eggersglüß, S., Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Reutlingen : Robert Bosch GmbH
Quelle: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 27. GI/GMM/ITG-Workshop, 1.-3. März 2015,

Redundancy evaluation process of processor components for permanent fault compensation

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 2015 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems (AHS 2015), Montréal, Quebec, Canada, 15-18 June 2015, S. 1 - 6
ISBN: 978-1-4673-7501-6; 978-1-4673-7502-3

Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung

Autor(en): Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Cunningham, Douglas W., Hofstedt, Petra, Meer, Klaus, Schmitt, Ingo
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Bonn : Gesellschaft für Informatik
Quelle: Informatik 2015, Tagung vom 28. September – 2. Oktober 2015 in Cottbus, S. 1399 - 1414
ISBN: 978-3-88579-640-4
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: GI-Edition : Lecture Notes in Informatics ; 246

Detection and Correction of Logic Errors Using Extra Time Slots

Autor(en): Dicorato, Davide, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Cunningham, Douglas W., Hofstedt, Petra, Meer, Klaus, Schmitt, Ingo
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Bonn : Gesellschaft für Informatik
Quelle: Informatik 2015, Tagung vom 28. September – 2. Oktober 2015 in Cottbus, S. 1431 - 1444
ISBN: 978-3-88579-640-4
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: GI-Edition : Lecture Notes in Informatics ; 246

Combining Correction of Delay Faults and Transient Faults

Autor(en): Koal, Tobias, Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel nicht referiert
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, DDECS 2015, S. 99 - 102
ISBN: 978-1-4799-6780-3

Combined Detection and Correction of Transient Faults and Delay Faults

Autor(en): Scharoba, Stefan, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Berlin : VDE-Verlag
Quelle: ZuE 2015, Zuverlässigkeit und Entwurf, Beiträge der 8. GMM/ITG/GI-Fachtagung 21. – 23. September 2015 in Siegen
ISBN: 978-3-8007-4071-0

A Multi-Layer Software Based Fault-Tolerance Approach for Heterogenous Multi-Core Systems

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 16th Latin-American Test Symposium (LATS 2015), Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015, S. 1 - 6
ISBN: 978-1-4673-6710-3

Smarte Sensoren in der Feldebene

Autor(en): Glock, Thomas, Hillenbrand, Martin, Hübner, Michael
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2015
Quelle: atp edition, S. 32 - 42
Band/Jahrgang: 57
Ausgabe/Heft: 11
ISSN: 2364-3137

A framework to the design and programming of many-core focal-plane vision processors

Autor(en): Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Llanos, Carlos, Hübner, Michael
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2015
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: IEEE 13th International Conference on Embedded and Ubiquitous Computing, 21-23 Oct. 2015, Porto, Portugal, S. 193 - 198
ISBN: 978-1-4673-8299-1
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/7363638

Automating the Evaluation of Design Choices for Dependable Integrated Circuits

Autor(en): Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2015
Quelle: MEDIAN Finale - Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale (MEDIAN 2015)
URL: http://www.median-project.eu/wp-content/uploads/MEDIAN-Finale-p7.pdf

Correcting Delay Faults and Transient Faults in Pipelines

Autor(en): Scharoba, Stefan, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2015
Quelle: 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design, Siegen, Germany, 21-23 Sept. 2015, S. 7
ISBN: 978-3-8007-4071-0

Combining Fault Tolerance and Self Repair at Minimum Cost in Power and Hardware

Autor(en): Koal, Tobias, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: IEEE CS Press
Quelle: IEEE International Symposium DDECS 2014, Warschau, S. 153 - 159
ISBN: 978-1-4799-4560-3

Vergleich der Beschreibung und Simulation einer Befehlssatzarchitektur in LISA und CoMet

Autor(en): Urban, Roberto, Lehniger, Kai, Heyne, Maximilian, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: Göttingen : Cuvillier Verlag
Quelle: MBMV 2014, Böblingen, Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, S. 101 - 112
ISBN: 978-3-95404-637-9

Entwicklungsumgebung für den compilerzentrierten Mikroprozessorentwurf (CoMet)

Autor(en): Urban, Roberto, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: Stuttgart : Fraunhofer Verlag
Quelle: DASS 2014, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf, Tagungsband
ISBN: 978-3-8396-0738-1

Reconfigurable High Performance Architectures

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: IEEE
Quelle: 19th IEEE European Test Symposium (ETS), 26 May - 30 May 2014, Paderborn
ISBN: 978-1-4799-3415-7

Systematic Generation of Diagnostic Software-Based Self-Test Routines for Processor Components

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: IEEE
Quelle: 19th IEEE European Test Symposium (ETS), 26 May - 30 May 2014, Paderborn
ISBN: 978-1-4799-3415-7

Timing for Virtual TMR in Logic Circuits

Autor(en): Müller, Sebastian, Koal, Tobias, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Quelle: IOLTS 2014, 20th IEEE International On-Line Testing Symposium Hotel Cap Roig, Platja d'Aro, Catalunya, Spain July 7-9, 2014
ISBN: 978-1-4799-5324-0

Probleme bei Erzeugung und simulationsbasierten Validierung softwarebasierter Selbsttests zur feingranularen Diagnose

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: Stuttgart : Fraunhofer Verlag
Quelle: DASS 2014, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf, Tagungsband
ISBN: 978-3-8396-0738-1

Diagnostics self-test for dynamically scheduled superscalar processors based on reconfiguration techniques for handling permanent faults

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2014), Amsterdam, Netherlands, 1 - 3 October 2014, S. 27 - 32
ISBN: 978-1-4799-6155-9; 978-1-4799-6156-6

On reliability Estimation for Combined Transient and Permanent Fault Handling

Autor(en): Scharoba, Stefan, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2014
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 14th Biennial Baltic Electronic Conference (BEC), Tallinn, Estonia, 6-8 October 2014, S. 73 - 76
ISBN: 978-1-4673-9539-7; 978-1-4673-9540-3

Potential of Using a Reconfigurable System on a Superscalar Core for ILP Improvements

Autor(en): Brandalero, Marcelo, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2014
Quelle: 2014 Brazilian Symposium on Computing Systems Engineering, S. 43 - 48
ISBN: 978-1-4799-8559-3
DOI: https://doi.org/10.1109/SBESC.2014.19

Towards a Graceful Degradable Multicore-System by hierarchical Handling of Hard Errors

Autor(en): Müller, Sebastian, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: Piscataway : IEEE
Quelle: DaRMuS 2013, Special Session on Dynamic and Reliable Multicore Systems, Hosted by 21st EuromicroPDP Conference, S. 302 - 309
ISBN: 978-146-735-321-2

On the Feasibility of Combining On-Line-Test and Self Repair for Logic Circuits

Autor(en): Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Engelke, Piet, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Sekanina, Lukas
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: IEEE Computer Society
Quelle: 16th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2013), Karlovny Vary, April 2013
ISBN: 978-1-4673-6135-4

On-Line-Test, Fehlerkorrektur znd Selbstreparatur mit Time-Shared TMR

Autor(en): Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Engelke, Piet, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Dietrich, Manfred
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: Stuttgart : Fraunhofer-Verl.
Quelle: Tagungsband Dresdner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS), April 2013
ISBN: 978-3-8396-0545-5

Compilerzentrierter Mikroprozessor

Autor(en): Urban, Roberto, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Dietrich, Manfred
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: Stuttgart : Fraunhofer-Verl.
Quelle: Tagungsband Dredner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS 2013)
ISBN: 978-3-8396-0545-5

Towards an Automatic Generation of Diagnostic In-Field SBST for Processor Components

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Röder, Stephanie, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: Piscataway : IEEE
Quelle: Proceedings, 14th IEEE Latin American Test Workshop (LATW 2013)

Ein konfigurierbarer Zwischencodesimulator zum compilerzentrierten Mikroprozessorentwurf

Autor(en): Urban, Roberto, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: Rostock : Univ., ITMZ
Quelle: Tagungsband Workshop Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen (MBMV 2013)

Virtual TMR Schemes Combining Fault Tolerance and Self Repair

Autor(en): Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: IEEE
Quelle: 16th IEEE International Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2013, 4-6 Sep 2013, Santander, Spain, S. 235 - 242
ISBN: 978-0-7695-5074-9

Kombinierte On-Line-Fehlerkompensation und Selbstreparatur für Logik-Baugruppen

Autor(en): Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Engelke, Piet, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2013
Verlag: Dresden : Fraunhofer-Institut
Quelle: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 25. GI/GMM/ITG-Workshop, 24. bis 26. Februar 2013, Dresden

A Multiple-ISA Reconfigurable Architecture

Autor(en): Capella, Fernanda M., Brandalero, Marcelo, Junior, Jair Fajardo, Beck, Antonio Carlos Schneider, Carro, Luigi
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2013
Quelle: 2013 III Brazilian Symposium on Computing Systems Engineering (SBESC), Dec. 4 2013 to Dec. 8 2013, Niteroi, Rio De Janeiro, Brazil, S. 71 - 76
DOI: https://doi.org/10.1109/SBESC.2013.23

Selbstreparatur für Logik-Baugruppen mit erweiterten Fähigkeiten für die Kompensation von Fertigungsfehlern und Frühausfällen

Autor(en): Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Engelke, Piet, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Dresden : Fraunhofer IIS, Institutsteil EAS [u.a.]
Quelle: Dresdner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS), Dresden, Mai 2012, Tagungsband
ISBN: 978-3-8396-0404-5

An Adaptive Self-Test Routine for In-Field Diagnosis of Permanent Faults in Simple RISC Cores

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Raik, Jaan
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Piscataway : IEEE
Quelle: Proceedings, 15th IEEE Interantional Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Tallinn, April 2012, S. 312 - 317
ISBN: 978-1-4673-1185-4

Logic Self Repair Architecture with Self Test Capabilities

Autor(en): Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Engelke, Piet, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Drechsler, Rolf
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Quelle: Zuverlässigkeit und Entwurf, 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 25. bis 27. September 2012 in Bremen
ISBN: 978-3-8007-3445-0

Scan Based Tests Via Standard Interfaces

Autor(en): Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor, Engelke, Piet
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Piscataway : IEEE
Quelle: 15th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), September 2012, S. 844 - 851
ISBN: 978-0-7695-4798-5; 978-1-4673-2498-4

Activity Migration in M-of-N-Systems by Means of Loading-Balancing

Autor(en): Ulbricht, Markus, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Piscataway : IEEE
Quelle: 15th Euromicro Conference on Digital Systems Design (DSD), September 2012, S. 258 - 263
ISBN: 978-1-4673-2498-4

Hierarchical Self-repair in Heterogenous Multi-core Systems by Means of a Software-based Reconfiguration

Autor(en): Müller, Sebastian, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Piscataway : IEEE
Quelle: VEFRE 8th Workshop on Dependability and Fault-Tolerance, Proceedings of ARCS 2012 Workshops
ISBN: 978-1-4673-1913-3

Adaptiver softwarebasierter Selbsttest einfacher RISC-Prozessoren zur Lokalisierung von permanenten Fehlern im Feld

Autor(en): Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Dresden : Fraunhofer IIS, Institutsteil EAS [u.a.]
Quelle: Dresdner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS), Dresden, Mai 2012, Tagungsband, S. 150 - 155
ISBN: 978-3-8396-0404-5

Combining On-Line Fault Detection and Logic Self Repair

Autor(en): Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Raik, Jaan
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2012
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2012), Tallin, Estonia, 18 - 20 April 2012, S. 288 - 293
ISBN: 978-1-4673-1185-4

A Satellite Internal Communication Controller: Design and Implementation

Autor(en): Veleski, Mitko, Petrovic, Vladimir, Stamenkovic, Zoran
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr: 2012
Quelle: Advances in Circuits, Systems, Automation and Mechanics : 11th WSEAS International Conference on Circuits, Systems Electronics, Control and Signal Processing, Montreux, S. 87 - 90
ISBN: 978-1-61804-146-3
URL: https://www.researchgate.net/publication/235652387_A_Satellite_Internal_Communication_Controller_Design_and_Implementation

Design and test technology for dependable systems-on-chip

Publikationsart: Buch
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Hershay, Pa. [u.a.] : Information Science Reference
Freie Schlagworte: Systems-on-Chip; Test; Zuverlässigkeit
ISBN: 978-1-6096-0212-3

Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation

Autor(en): Koal, Tobias, Beck, Matthias-Stephan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Freie Schlagworte: ICs; Zuverlässigkeit; Lebensdauer; Selbstreparatur
Quelle: 5. GI /GMM/ITG-Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf"

Dependability and Life Time Enhancement for Nano-Electronic Systems

Autor(en): Koal, Tobias, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Poznan : Univ. of Technology, Fac. of Computing, Chair of Control and System Engineering
Freie Schlagworte: ICs; Mikroelektronik; Zuverlässigkeit
Quelle: Signal processing, SPA 2011, Poznan, 29 - 30th September 2011, conference proceedings, S. 61 - 67
ISBN: 978-83-62065-02-8

On the Feasibility of Built-in Self Repair for Logic Circuits

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: ICs; Test; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2011), Vancouver, British Columbia, Canada, 3 - 5 October 2011, S. 316 - 324
ISBN: 978-1-4577-1713-0

Fine-Grained Software-Based Self Repair of VLIW Processors

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2011), Vancouver, British Columbia, Canada, 3 - 5 October 2011, S. 41 - 49
ISBN: 978-1-4577-1713-0

Fault-tolerant integrated interconnections based on built-in self-repair and codes

Autor(en): Scheit, Daniel
Publikationsart: Dissertation
Erscheinungsjahr: 2011
Freie Schlagworte: Test; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz; Selbstreparatur
URN: urn:nbn:de:kobv:co1-opus-22679

IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011

Herausgeber: Vierhaus, Heinrich Theodor, Steininger, Andreas, Pawlak, A., Kraemer, Rolf, Schölzel, Mario, Raik, Jaan
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Freie Schlagworte: Design; Test; Zuverlässigkeit
ISBN: 978-1-4244-9755-3
URL: http://www.ieee.org

Optimal Spare Utilization for Reliability and Men Litetime Improvement for Logic Built-in Self Repair

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Freie Schlagworte: Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Proceedings, IEEE DDECS 2011, Cottbus
ISBN: 978-1-4244-9753-9
URL: www.computer.org

A New Hierarchical Built-In Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors

Autor(en): Ulbricht, Markus, Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Freie Schlagworte: Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Quelle: IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011, S. 143 - 146
ISBN: 978-1-4244-9755-3
URL: www.computer.org

A New Hiararchical Built-In SElf Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors

Autor(en): Ulbricht, Markus, Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Freie Schlagworte: Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Quelle: Polian, I. (Hrsg.): Proceedings / 23. ITG / GI /GMM Tagung "Test und Zuverlässigkeit, Passau, 2011

Self Repair Technology for Global Interconnects on SoCs

Autor(en): Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Hershay, Pa. [u.a.] : Information Science Reference
Quelle: Design and test technology for dependable systems-on-chip, S. 195 - 215
ISBN: 978-1-6096-0212-3

Built-in Self Repair for Logic Structures

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Hershay, Pa. [u.a.] : Information Science Reference
Quelle: Design and test technology for dependable systems-on-chip
ISBN: 978-1-6096-0212-3

SoC Self Test Based on a Test Processor

Autor(en): Koal, Tobias, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Hershey [u.a.] : IGI Global
Quelle: Design an Test Technology for Dependable Systems on Chip, S. 360 - 375
ISBN: 978-1-6096-0212-3

Self Repair by Program Reconfiguration in VLIW Processor Architectures

Autor(en): Schölzel, Mario, Pawlowski, Pawel, Dabrowski, Adam
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2011
Verlag: Hershay, Pa. [u.a.] : Information Science Reference
Quelle: Design and test technology for dependable systems-on-chip, S. 241 - 266
ISBN: 978-1-6096-0212-3

Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik

Autor(en): Gleichner, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2010
Quelle: TuZ (2010)pp. 79-84

Eingebaute Selbstreparatur zur Kompensation von Produktions- und Alterungsfehlern

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Quelle: Elst, Günter (Hrsg.): DASS 2010, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf. - Stuttgart : Fraunhofer-Verl., 2010 S. 73-78, 978-3-8396-0126-6

Möglichkeiten und Grenzen der Software-basierten Selbstreparatur in statisch geplanten superskalaren Prozessorarchitekturen

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Quelle: Elst, Günter (Hrsg.): DASS 2010, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf. - Stuttgart : Fraunhofer-Verl., 2010 S. 79-84, 978-3-8396-0126-6

HW / SW Co-Detection of Transient and Permanent Faults with Fast Recovery in Statically Scheduled Data Paths

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: 2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2010, Dresden, Germany, 8 - 12 March 2010, S. 723 - 728
ISBN: 978-1-4244-7054-9

Software-Based Self-Repair of Statically Scheduled Superscalar Data Paths

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Quelle: Proceedings of the 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Vienna, April 2010, pp. 66-71

Test Data and Power Reductions for Transition Delay Tests for Massive Parallel Scan Structures

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: ICs; Test; low-power
Quelle: 2010 13th Euromicro Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools (DSD 2010), Lille, France, 1 - 3 September 2010, S. 283 - 290

Effective Logic Self Repair Based on Extracted Logic Clusters

Autor(en): Gleichner, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: IEEE
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Signal Processing Algorithms, Architectures, Arrangements, and Applications Conference Proceedings (SPA), 2010, Poznan
ISBN: 978-1-4577-1485-6

Combining Hardware and Software Based Self Repair Methods for Statically Scheduled Data Paths

Autor(en): Müller, Sebastian, Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: Prozessoren; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: 2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2010), Kyoto, Japan, 6 - 8 October 2010, S. 90 - 98
ISBN: 978-1-424-48447-8

Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren zur Fehlerkompensation und Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte: ICs; Fehler; Test; Selbstreparatur
Quelle: Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth, S. 57 - 62
ISBN: 978-3-8007-3299-9

A Software Based Self Test and Hardware Reconfiguration Solution for VLIW Processors

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: Prozessoren; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010, S. 40 - 43
ISBN: 978-1-4244-6612-2

Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: ICs; Zuverlässigkeit; Test; Selbstreparatur
Quelle: 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010, S. 99 - 104
ISBN: 978-1-4244-6613-9

Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik

Autor(en): Gleichner, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2010
Freie Schlagworte: ICs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Hellebrand, S. (Hrsg.): Tagungsband TuZ 2010, Paderborn

Scaling the Discrete Cosine Transformation for Fault-Torelant Real-Time Execution

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Poznan : Univ. of Technology, Fac. of Computing Science and Management
Quelle: Signal processing, SPA 2009, Poznan, 24th - 26th September 2009, conference proceedings, S. 19 - 24
ISBN: 978-83-62065-00-4

A Comprehensive Scheme for Logic Self Repair

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Poznan : Univ. of Technology, Fac. of Computing Science and Management
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Signal processing, SPA 2009, Poznan, 24th - 26th September 2009, conference proceedings, S. 13 - 18
ISBN: 978-83-62065-00-4

A Concept for Logic Self Repair

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: 12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece, S. 621 - 624
ISBN: 978-1-424-44768-8

Reliability Estimation Process

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle: 12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece, S. 221 - 224
ISBN: 978-1-424-44768-8

Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Zuverlässigkeit und Entwurf, 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart, S. 29 - 36
ISBN: 978-3-8007-3178-7

Zentrale und dezentrale Selbstreparatur von Bussen

Autor(en): Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle: Proceedings, EdaWorkshop 09, Dresden (Germany), May 26 - 28, 2009, S. 37 - 42
ISBN: 978-3-8007-3165-7

Zentrale und dezentrale Selbstreparatur von Bussen

Autor(en): Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Drechsler, R. (Hrsg.): Proceedings TUZ 2009, Bremen

A Scheme of Logic Self Repair Including Local Interconnects

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: 12th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, DDECS, Liberec, Czech Republic, 15 - 17 April 2009
ISBN: 978-1-4244-3339-1

A Delay Estimation of Rescheduling Schemes for Statically Scheduled Processors

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte: Prozessoren; Fehlertoleranz
Quelle: Workshop proceedings, ARCS 2009, 22th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 11, 2009, Delft, The Netherlands, S. 117 - 124
ISBN: 978-3-8007-3133-6

Logik-Selbstreparatur auf der Basis elementarer Logik-Blöcke mit lokaler Redundanz

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Drechsler, R. (Hrsg.): Proc. TUZ 2009, U. Bremen

Logic Self Repair Based on Regular Buidling Blocks

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Proc. ARCS2009 Workshop on Fault Tolerance,VDI / VDE

Logic Self Repair Based on Regular Building Blocks

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2009
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Quelle: Workshop proceedings, ARCS 2009, 22th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 11, 2009, Delft, The Netherlands, S. 71 - 76
ISBN: 978-3-8007-3133-6

Basic Architecture for Logic Self Repair

Autor(en): Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Quelle: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2008. - Piscataway : IEEE, 2008, S. 177-178, 978-0-7695-3264-6

A Scan Controller Concept for Low-Power Scan Test

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Artikel
Erscheinungsjahr: 2008
Freie Schlagworte: Test; Low-Power
Quelle: Journal of Low-Power Electronis Vol. 4(2008) 1-9, 1546-1998

Simulated fault injections and their acceleration in system C

Autor(en): Misera, Silvio Andre, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Artikel
Erscheinungsjahr: 2008
Freie Schlagworte: Fehlersimulation
Quelle: Journal of Microprocessors and Microsystems 32(2008)5-6, pp. 270-278, 0141-9331

Logic Self Repair based on Regular Building Blocks

Autor(en): Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Dabrowksi, A. (Hrsg.): Proc. IEEE NTAV /SPA 2008, Poznan

Fehlertolerante Busse basierend auf Codes und Selbstreparatur

Autor(en): Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Zuverlässigkeit und Entwurf : 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung in Ingolstadt, September 2008. - Offenbach : VDI/VDE-Verlag, 2008, S. 157 - 158, 978-3-8007-3119-0 (GMM-Fachbericht ; 57)

Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle: Zuverlässigkeit und Entwurf, 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt, S. 57 - 64
ISBN: 978-3-8007-3119-0
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: GMM Fachbericht ; 57

Embedded Diagnostic Logic Test Exploiting Regularity

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Fanucci, Luca
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: IC-Test
Quelle: Proceedings, 11th EUROMICRO Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, 2008, DSD '08, 3 - 5 Sept. 2008, Parma, Italy, S. 873 - 879

Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik

Autor(en): Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Dresden : Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS'2008), Workshop Entwurf integrierter Schaltungen (WEIS'08) 15. - 16. Mai 2008
ISBN: 3-9810287-2-4

Ein hybrides Selbsttest- und Reparaturkonzept für VLIW-Prozessoren

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Freie Schlagworte: Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Quelle: Steininger, A. (Hrsg.): Proc. 20th ITG-GI-GMM-Workshop "Test und Zuverlässigkeit" 2008, TU Wien, Februar 2008

Test Technology for Sequential Circuits

Autor(en): Vierhaus, Heinrich Theodor, Stamenković, Zoran
Herausgeber: Oklobdzija, Vojin G.
Publikationsart: Teil eines Buches (Kapitel)
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Boca Raton : CRC Press
Freie Schlagworte: Test; Testable Design
Quelle: The Computer Engineering Handbook, Part 1, Digital design and fabrication
ISBN: 978-0-8493-8602-2

Angepasste Fehlerdiagnose für die Selbstreparatur in logischen Schaltungen

Autor(en): Kothe, René, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Elst, G.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Dresden : Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen
Quelle: Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf, (DASS'2008), Workshop Entwurf integrierter Schaltungen (WEIS'08) 15. - 16. Mai 2008
ISBN: 3-9810287-2-4

Fehlertolerante integrierte Verbindungsstrukturen

Autor(en): Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Elst, G.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Dresden : Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen
Quelle: Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS'2008), S. 15 - 16
ISBN: 3-9810287-2-4

Fault Diagnosis in Logic Circuits Exploiting Regularity

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Quelle: Tagungsband, edaWorkshop 08, Hannover, 6. - 7. Mai 2008, S. 57 - 62
ISBN: 978-3-8007-3101-5

Fehlertoleranz und Selbstreparatur von Verbindungsstrukturen auf SoCs

Autor(en): Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Steininger, Andreas
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2008
Verlag: Wien : Techn. Univ.
Quelle: 20. ITG-GI-Workshop, Wien, TUZ 2008, S. 121 - 126

Simulation von Fehlern in digitalen Schaltungen mit SystemC

Autor(en): Misera, Silvio Andre
Publikationsart: Dissertation
Erscheinungsjahr: 2007
Freie Schlagworte: Digitalschaltung; SystemC; Fehlererkennung; Fehlerbehandlung; Fehlersimulation
URN: urn:nbn:de:kobv:co1-opus-4063

Embedded Fault Diagnosis Exploiting Regularity

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Fehler; Test; Diagnose
Quelle: Dabrowski, A. (Hrsg.): Proc. IEEE SPA 2007, Poznan

Reduced Triple Modular Redundancy for Built-in Self Repair in VLIW Processors

Autor(en): Schölzel, Mario
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Freie Schlagworte: Prozessoren; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Dabrowski, A. (Hrsg.): Proc. IEEE SPA 2007, Poznan, 2007

Timing / Power Optimization for Digital Logic Based on Standard Cells

Autor(en): Misera, Silvio Andre, Rossmann, Helmut, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Freie Schlagworte: IC design timing; power; Optimierung
Quelle: Proceedings / 10th Euromicro Conference, DSD, 2007, Lübeck, Sept. 2007, IEEE CS Press, 2007, pp. 303 - 306, 0-7695-2978-X

Fault Injection Techniques and their Acccelerated Simulation in SystemC

Autor(en): Sieber, André, Misera, Silvio Andre, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Freie Schlagworte: ICs; Test; Fehlersimulation
Quelle: Proceedings, 10th Euromicro Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, DSD 2007, 29 - 31 August 2007, Lübeck, Germany, S. 587 - 595
ISBN: 978-0-7695-2978-3

A Configurable Modular Test Processor and Scan Controller Architecture

Autor(en): Frost, Raik, Rudolph, D., Galke, Christian, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Test; Selbsttest
Quelle: Proceedings, IOLTS 2007, 13th IEEE International On-Line Testing Symposium, Heraklion, Crete, Greece, 8 - 11 July 2007, S. 277 - 284
ISBN: 0-7695-2918-6

Möglichkeiten und Grenzen der automatischen SBST-Generierung für einfache Prozessoren

Autor(en): Galke, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Dresden : TUDpress, Verl. der Wissenschaften
Freie Schlagworte: Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Quelle: Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS' 2007), 8. - 9. Mai 2007, S. 39 - 44
ISBN: 978-3-940046-28-4
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Wissenschaftliche Schriftenreihe Eingebettete, selbstorganisierende Systeme ; 5

Flip-Flops and Scan Path Elements for Nanoelectronics

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: IEEE
Freie Schlagworte: ICs; Test; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle: Proceedings, Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS '07, Krakow, 11 - 13 April 2007
ISBN: 1-4244-1162-9

Hardware-nahe Fehlersimulation mit effektiven SystemC-Modellen

Autor(en): Misera, Silvio Andre, Sieber, André
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Aachen : Shaker
Freie Schlagworte: ICs; Fehler; Test; Fehlersimulation
Quelle: Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 10. GI/ITG/GMM-Workshop Modellierung und Verifikation, S. 39 - 48

Reparaturfunktionen für Bus-Strukturen auf SoCs

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Sattler, Sebastian
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Test; Selbstreparatur
Quelle: Zuverlässigkeit und Entwurf, 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München, S. 77 - 84
ISBN: 978-3-8007-3023-0; 3-8007-3023-5
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: GMM-Fachbericht ; 52

Repair Functions and Redundancy Management for Bus Structures

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte: ICs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle: Workshop proceedings, ARCS 2007, 20th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 15, 2007, Zurich, Switzerland
ISBN: 978-3-8007-3015-5

Diagnostics Logic Testing Based on Advanced Scan Technology and an Embedded Test Processor

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Bericht
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Cottbus : BTU
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Computer Science Report ; 2007,1

Hardware-nahe Fehlersimulation mit effektievn SystemC-Modellen

Autor(en): Misera, Silvio, Sieber, André
Herausgeber: Haubelt, Christian, Teich, Jürgen
Publikationsart: Teil eines Buches (Kapitel)
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Aachen : Shaker
Quelle: Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, S. 39 - 48
ISBN: 978-3-8322-5956-3
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Berichte aus der Informatik

Fehlerinjektionstechniken in SystemC-Beschreibungen mit Gate- und Switch-Level-Verhalten

Autor(en): Misera, Silvio, Sieber, Andre
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Dresden : TUDpress
Quelle: Tagungsband, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2007), 8. - 9. Mai 2007, S. 29 - 34
ISBN: 978-3-940046-28-4
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Wissenschaftliche Schriftenreihe Eingebettete, selbstorganisierende Systeme ; 5

Fehlerhärtung und Fehlertoleranz für Flip-Flops und Scan-Path-Elemente

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2007
Verlag: Dresden : TUDpress
Quelle: Tagungsband, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2007), 8. - 9. Mai 2007, S. 67 - 72
ISBN: 978-3-940046-28-4
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Wissenschaftliche Schriftenreihe Eingebettete, selbstorganisierende Systeme ; 5

Logic Self Repair

Autor(en): Galke, Christian, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Bonn : Ges. für Informatik
Quelle: Workshop proceedings, ARCS '06, 19th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 16, 2006, Frankfurt am Main, S. 36 - 44
ISBN: 978-3-88579-175-1

Evaluating Coverage of Error Detection Logic for Soft Errors using Formal Methods

Autor(en): Krautz, U., Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor, Jacobi, C., Tast, H. W.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE
Quelle: Design, automation and test in Europe, Munich, Germany, March 6 - 10, 2006, proceedings, vol. 1, S. 176 - 181
ISBN: 3-9810801-1-4

Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrieten Schaltungen- Möglichkeiten und Grenzen

Autor(en): Kothe, René, Habermann, Sven, Vierhaus, Heinrich Theodor, Coym, Torsten, Vermeiren, W., Straube, B.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Dresden : Fraunhofer-Institut
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Fehlertoleranz; Selbstreparatur
Quelle: Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2006), 10. - 11. Mai 2006

Embedded Self Repair by Transistor and Gate Level Reconfiguration

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor, Coym, Torsten, Vermeiren, W., Straube, B.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: IEEE
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems, (DDECS 2006), Prag, April 2006, S. 208 - 213
ISBN: 1-4244-0185-2

Embedded Scan Test with Diagnostic Features for Self-Testing SoCs

Autor(en): Galke, Christian, Kothe, René, Schultke, Sabine, Winkler, Christin, Honko, Jeanette, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Freie Schlagworte: ICs; Test; Selbsttest
Quelle: Proceedings - IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006, S. 181 - 182
ISBN: 978-0-7695-2620-1

Built-in Self Repair by Reconfiguration of FPGAs

Autor(en): Habermann, Sven, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Los Alamitos, Calif [u.a.] : IEEE Computer Society
Freie Schlagworte: ICs; FPGAs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: Proceedings - IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006, S. 187 - 188
ISBN: 978-0-7695-2620-1

Timing-Power-getriebener Layout-Entwurf für Zellen-basierte Digitalschaltungen

Autor(en): Vick, Axel, Rossmann, Helmut, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Freie Schlagworte: ICs; Layout; Synthese; Timing; Power
Quelle: Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 9. ITG/GI/GMM Workshop, 20. - 22. Februar 2006, Dresden, S. 61 - 69

An Embedded Test Strategy for Global and Regiional Interconnects on SoCs

Autor(en): Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Dabrowski, Adam
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Freie Schlagworte: Bus-Test; ICs; Test
Quelle: Signal processing '2006, workshop proceedings, Poznan, 29th September 2006, S. 65 - 70
ISBN: 83-913251-7-2

Scan-Based SoC Test Using Space / Time Pattern Compaction Schemes

Autor(en): Galke, Christian, Gätzschmann, Uwe, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Test; Test Compression
Quelle: Proceedings / 9th EUROMICRO Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, DSD 2006. - Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society, 2006, S. 433 - 438, 0-7695-2609-8

A Mixed Level Fault Simulation of VHDL and SystemC

Autor(en): Misera, Silvio Andre, Breitenfeld, Lars, Sieber, André, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Freie Schlagworte: Test; Fehlersimulation
Quelle: Proceedings / 10th Euromicro Conference, DSD, 2006, Dubrovnik, IEEE CS Press 2006, pp. 275-279, 0-7695-2609-8

Redundanz-Management und Fehlerisolierung für die Selbstreparatur in digitalen und analogen Schaltungen

Autor(en): Kothe, René, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Berlin [u.a] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle: ANALOG '06, Vorträge der 9. ITG/GMM-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2006 in Dresden, S. 57 - 62
ISBN: 978-3-8007-2988-3
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: ITG-Fachbericht ; 196

Eine Mixed-Language-Fault-Simulation von VHDL- und SystemC-Modellen

Autor(en): Misera, Silvio Andre, Sieber, André, Breitenfeld, Lars, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Dresden : Fraunhofer-Institut
Freie Schlagworte: ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlersimulation
Quelle: Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2006), 10. - 11. Mai 2006

Hierarchische Fehlersimulation mit effektiven SystemC-Modellen

Autor(en): Misera, Silvio
Herausgeber: Bachmann, Peter, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Cottbus : BTU, Inst. of Computer Science
Quelle: 1st Cooperation Workshop of Computer Science, 2006, Cottbus, S. 31 - 36
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Computer science reports ; 2006,3

Hardware/Software Based Hierarchical Self Test for SoCs

Autor(en): Kothe, René, Galke, Christian, Schultke, Sabine, Fröschke, Henry, Gaede, Steffen, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2006
Verlag: Piscataway, NJ : IEEE Service Center
Quelle: Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April 18-21, 2006, Prague, Czech Republic, S. 157 - 158
ISBN: 1-4244-0185-2

Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrierten Schaltungen - Möglichkeiten und Grenzen

Autor(en): Kothe, René, Habermann, Sven, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel nicht referiert
Erscheinungsjahr: 2006
Quelle: Forum der Forschung, S. 125 - 130
Band/Jahrgang: 10
Ausgabe/Heft: 19
ISSN: 0947-6989

Ein flexibler Ansatz für den Scan-Test von SoCs

Autor(en): Gätzschmann, Uwe, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor, Kaibel, M.
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2005
Quelle: 17. ITG-GI-GMM-Workshop Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Inssbruck, Febr./März 2005, S. 32-36

A Multi-Purpose Concept for SoC Self Test Including Diagnostics Features

Autor(en): Kothe, René, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2005
Verlag: IEEE Computer Society : Los Alamitos, Calif. [u.a.]
Quelle: 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2005, IOLTS 2005, 6 - 8 July 2005, [Saint Raphael, French Riviera, France, proceedings], S. 241 - 246
ISBN: 0-7695-2406-0

Transistor- and Gate Level Self Repair for Logic Circuits

Autor(en): Vierhaus, Heinrich Theodor, Dabrowski, Adam
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2005
Quelle: Signal processing '2005, workshop proceedings, Poznan, 30th September 2005, S. 7 - 12
ISBN: 83-913251-6-4

Power-Timing Optimierung für Zellen-basierte Digitalschaltungen in Submikron-Technologien

Autor(en): Vierhaus, Heinrich Theodor, Rossmann, Helmut
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2005
Verlag: Bonn : Gesellschaft für Informatik
Quelle: Informatik 2005 - Informatik LIVE!, Beiträge der 35. Jahrestagung der Gesellschaft für Informatik e.V., 19. - 22. September 2005 in Bonn, Bd. 1, S. 339 - 343
ISBN: 3-88579-396-2
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: GI-Edition : Proceedings ; 67

Eine Simulationsumgebung zur Validierung des Fehlerverhaltens für Prozessor-basierte Systeme

Autor(en): Galke, Christian, Misera, Silvio, Fröschke, Henry, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Hellebrand, Sybille
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2005
Quelle: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 17. ITG/GI/GMM Workshop, 27. Febr. - 1. März 2005, Hilton Innsbruck, Österreich

Parallele hierarchische Fehlersimulation zur Validierung des Fehlerverhaltens für SoCs

Autor(en): Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor, Misera, Silvio, Fröschke, Henry
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2005
Quelle: GI/ITG/GMM-Workshop Modellierung und Verifikation, 2005 an der TU München

Ein funktionales Selbsttest-Konzept für Prozessor-Strukturen am Beispiel des Testprozessors T5016p

Autor(en): Schwabe, Hanko, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2004
Quelle: Straube, Bernd (Red.): Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : 16. ITG/GI/GMM Workshop, 29. Februar - 2. März 2004 in Dresden, Dresden : Fraunhofer IIS/EAS, 2004

Ein flexibles Verfahren zur Testdaten-Kompaktierung und -Dekompaktierung für den Scan-Test

Autor(en): Gätzschmann, Uwe, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2004
Quelle: Straube, Bernd (Red.): Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : 16. ITG/GI/GMM Workshop, 29. Februar - 2. März 2004 in Dresden, Dresden : Fraunhofer IIS/EAS, 2004

FIT - a parallel hierarchical fault simulator

Autor(en): Misera, Silvio Andre, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2004
Verlag: Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle: PARELEC 2004, International Conference on Parallel Computing in Electrical Engineering, and Workshop on System Design Automation (SDA), 7 - 10 September 2004, Dresden, Germany, S. 289 - 296
ISBN: 0-7695-2080-4

Application Specific Processor Design for Digital Signal Processing

Autor(en): Schölzel, Mario, Bachmann, Peter, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Dabrowski, Adam
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2004
Verlag: Poznan : Poznan Univ. of Technology
Quelle: Signal processing '2004, workshop proceedings, Poznan, 24th September 2004, S. 7 - 15
ISBN: 83-913251-5-6

A Hierarchical Self Test Scheme for SoCs

Autor(en): Kretzschmar, Claudia, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2004
Quelle: Metra, Cecilia (Hrsg.): Proceedings / 10th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2004 : 12 - 14 July 2004, Funchal, Madeira Island, Portugal. - Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society, 2004, S. 37-42, 0-7695-2180-0

Kompaktierung von Testmustern für den Test von SoCs mittels einer Testprozessor-Architektur

Autor(en): Galke, Christian, Grabow, M., Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2003
Quelle: 15. ITG-GI-GMM-Workshop: Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Timmendorfer Strand, März 2003 (Poster-Session)

Test Pattern De-/Compaction for SoC Test in a Test Processor Environment

Autor(en): Galke, Christian, Grabow, M., Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2003
Quelle: 8th IEEE European Test Workshop, Maastricht, May 2003 (Poster-Session)

Perspectives of combining online and offline test technology for dependable systems on a chip

Autor(en): Galke, Christian, Grabow, M., Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2003
Verlag: Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE
Quelle: Proceedings, 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003, 7 - 9 July 2003, Kos International Convention Center, Kos Island, Greece, S. 183 - 187
ISBN: 0-7695-1968-7

Detection and Compensation of Transient Errors in Processor Structures

Autor(en): Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2003
Quelle: 6th IEEE Intern. Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Poznan, April 2003

Control Signal Protection - A New Challenge for High Performance Processors

Autor(en): Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2003
Verlag: Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle: Proceedings, 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003, 7 - 9 July 2003, Kos International Convention Center, Kos Island, Greece, S. 173 - 177
ISBN: 0-7695-1968-7

Testing of Synchronous Sequential Digital Circuits

Autor(en): Gläser, Uwe, Stamenković, Zoran, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Oklobdzija, Vojin G.
Publikationsart: Teil eines Buches (Kapitel)
Erscheinungsjahr: 2002
Verlag: Boca Raton [u.a.] : CRC Press
Quelle: The Computer Engineering Handbook, S. 45-1 - 45-22
ISBN: 0-8493-0885-2

On-Line Error Detection and Correction in Storage Elements with Cross-Parity Check

Autor(en): Pflanz, Matthias, Walther, Karsten, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2002
Verlag: Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle: Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop, (IOLTW 2002), 8 - 10 July 2002, Isle of Bendor, France, S. 69 - 73
ISBN: 0-7695-1641-6

On-Line Detection and Compensation of Transient Errors in Processor Pipeline Structurs

Autor(en): Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2002
Verlag: Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle: Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop, (IOLTW 2002), 8 - 10 July 2002, Isle of Bendor, France
ISBN: 0-7695-1641-6

Hardware/Software Based Test Techniques for Systems on a Chip with Embedded Processors

Autor(en): Galke, Christian, Mohaupt, Thomas, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2002
Quelle: BTU Computer Science Reports No. 05/02

Hardware/Software basierter Selbsttest für System on a Chip (SOCs) mit eingebetteten Prozessoren

Autor(en): Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Hennig, Hardy, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Wagner, Ralph
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2002
Quelle: Proceeding 14. ITG-Gi-Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Bad Herrenalb

Online error detection and fast recover techniques for dependable embedded processors

Autor(en): Pflanz, Matthias
Publikationsart: Dissertation
Erscheinungsjahr: 2002
Verlag: Berlin [u.a.] : Springer
ISBN: 3-540-43318-X
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer: Lecture notes in computer science ; 2270

A Test Processor Concept for Systems-on-a-Chip

Autor(en): Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2002
Quelle: Proceeding IEEE International Conference on Computer Design (ICCD), Freiburg, pp. 210-213, 0-7695-1700-5

On-line Error Detection Techniques for Depandable Embedded Processors with High Complexity

Autor(en): Pflanz, Matthias, Walther, Karsten, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2001
Quelle: Proceeding 7th IEEE International On-Line Test Workshop
Quelle: Proceedings, Seventh International On-Line Testing Workshop, 9 - 11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy, S. 51 - 53
ISBN: 0-7695-1290-9

Online Check and Recovery Techniques for Depandable Embedded Processors

Autor(en): Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr: 2001
Quelle: IEEE micro, S. 24 - 40
Band/Jahrgang: 21
Ausgabe/Heft: 5
ISSN: 0272-1732

On-Line Built-In Self-Check Techniken für zuverlässige eingebettete Prozessoren mit hoher Konplexität

Autor(en): Pflanz, Matthias, Walther, Karsten, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber: Alt, Jürgen
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2001
Quelle: Procedding 13. ITG-GI-Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systeme", Miesbach

A Register Transfer Fault Simulator for Permanent and Transient Faults in Embedded Processors

Autor(en): Rousselle, Christian, Pflanz, Matthias, Behling, A., Mohaupt, Thomas, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2001
Quelle: Proceedings, Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition 2001, Munich, Germany, March 13 - 16, 2001, S. 811
ISBN: 0-7695-0993-2; 0-7695-0994-0

Design and Architecture of Dependable Computer-Based Systems

Autor(en): Vierhaus, Heinrich Theodor, Pflanz, Matthias, Mohaupt, Thomas
Publikationsart: Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel nicht referiert
Erscheinungsjahr: 2000
Quelle: Proceedings of the Polish-German Symposium on Science-Research-Education (SRE), Sept. 2000, S.183-192, 83-85911-86-3

A New Method for On-Line State Machine Observation for Embedded Microprocessors

Autor(en): Pflanz, Matthias, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2000
Quelle: Proceedings / IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop : 8 - 10 November 2000, Berkeley, California. - Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society, 2000, S. 34-39, 0-7695-0786-7

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