32nd International Parallel and Distributed Processing Symposium workshops, IPDPSW 2018, proceedings, 21-25 May 2018, Vancouver, British Columbia, Canada, S. 154 - 161
A Dynamic Partial Reconfigurable Overlay Framework for Python
Autor(en)
Janßen, Benedikt, Kästner, Florian, Wingender, Tim, Hübner, Michael
Herausgeber
Voros, Nikolaos S., Hübner, Michael, Keramidas, Georgios, Göhringer, Diana, Antonopoulos, Christos, Diniz, Pedro C.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Cham : Springer
Quelle
Proceedings, 14th International Symposium on Applied Reconfigurable Computing, Santorini, Greece, May 2-4, 2018, S. 331 - 342
ISBN
978-3-319-78889-0
978-3-319-78890-6
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
Lecture Notes in Computer Science ; 10824
Runtime Adaptive Cache for the LEON3 Processor
Autor(en)
Guzman, Osvaldo Navarro, Hübner, Michael
Herausgeber
Voros, Nikolaos S., Hübner, Michael, Keramidas, Georgios, Göhringer, Diana, Antonopoulos, Christos, Diniz, Pedro C.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Cham : Springer
Quelle
Proceedings, 14th International Symposium on Applied Reconfigurable Computing, Santorini, Greece, May 2-4, 2018, S. 343 - 354
Exploring Deep Neural Networks for Regression Analysis
Autor(en)
Janßen, Benedikt, Kästner, Florian, Kautz, Frederik, Hübner, Michael
Herausgeber
Hübner, Michael, Rückemann, Claus-Peter
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
[Wilmington] : IARIA
Quelle
PESARO 2018, the Eighth International Conference on Performance, Safety and Robustness in Complex Systems and Applications, April 22-26, 2018, Athens, Greece /
ISBN
978-1-61208-628-6
General-Purpose Computing with Soft GPUs on FPGAs
Autor(en)
Al Kadi, Muhammed Soubhi, Janßen, Benedikt, Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Hübner, Michael
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2018
Quelle
ACM Transactions on Reconfigurable Technology and Systems
Lecture Notes in Computer Science book series ; volume 10824
Theoretical Computer Science and General Issues book sub series ; volume 10824
A Low-Cost BRAM-Based Function Reuse for Configurable Soft-Core Processors in FPGAs
Autor(en)
Becker, Pedro H. Exenberger, Sartor, Anderson L., Brandalero, Marcelo, Jost, Tiago Trevisan, Wong, Stephan, Carro, Luigi, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2018
Verlag
Cham : Springer
Quelle
Applied Reconfigurable Computing. Architectures, Tools, and Applications14th International Symposium, ARC 2018, Santorini, Greece, May 2-4, 2018, Proceedings, S. 499 - 510
Efficient Local Memory Support for Approximate Computing
Autor(en)
Brandalero, Marcelo, Malfatti, Guilherme Meneguzzi, Oliveira, Geraldo Francisco, Silveira, Leonardo Almeida da, Gonçalves, Larissa Rozales, Da Silva, Bruno Castro, Carro, Luigi, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2018
Quelle
2018 VIII Brazilian Symposium on Computing Systems Engineering (SBESC), S. 122 - 129
Fault Detection and Self Repair in Hsiao-Code FEC Circuits
Autor(en)
Dicorato, Davide, Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2017
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 19-21 April 2017, Dresden, Germany
ISBN
978-1-5386-0471-7
978-1-5386-0472-4
On Implementation and Usage of Muller C-element in FPGA-based Dependable Systems
Autor(en)
Pfeifer, Petr, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2017
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
22nd IEEE International Conference on Applied Electronics, Pilsen, 5-6 September 2017, S. 163 - 166
ISBN
978-80-261-0641-8
978-80-261-0642-5
Fast Power Overhead Prediction for Hardware Redundancy-based Fault Tolerance
Autor(en)
Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2017
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 3-5 July 2017, Hotel Makedonia Palace, Thessaloniki, Greece, S. 265 - 270
ISBN
978-1-5386-0351-2
978-1-5386-0352-9
On Comparison of Configurable Encoders in Xilinx and Altera FPGAs
Autor(en)
Pfeifer, Petr, Hosseinzadeh, Farnoosh, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2017
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
22nd 2017 International Conference on Applied Electronics, Pilsen, 5-6 September 2017, S. 159 - 162
Hoffmann, Javier Eduardo, Guzman, Osvaldo Navarro, Kästner, Florian, Janßen, Benedikt, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2017
Verlag
Wilmington, DE, USA : IARIA
Quelle
PESARO 2017, The Seventh International Conference on Performance, Safety and Robustness in Complex Systems and Applications, S. 33 - 39
ISBN
978-1-61208-549-4
A machine learning methodology for cache recommendation
Autor(en)
Guzman, Osvaldo Navarro, Mori, Jones, Hoffmann, Javier Eduardo, Stuckmann, Fabian, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2017
Verlag
Cham : Springer
Quelle
Applied Reconfigurable Computing : 13th International Symposium, ARC 2017, Delft, The Netherlands, April 3-7, 2017, Proceedings, S. 311 - 322
A Design Methodology for the Next Generation Real-Time Vision Processors
Autor(en)
Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Werner, André, Shallufa, Arij, Fricke, Florian, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Cham : Springer
Quelle
Applied reconfigurable computing, 12th international symposium, ARC 2016, Mangaratiba, RJ, Brazil, March 22-24, 2016, S. 14 - 25
ISBN
978-3-319-30480-9
978-3-319-30481-6
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
Lecture notes in computer science ; 9625
A rapid prototyping method to reduce the design time in commercial high-level synthesis tools
Autor(en)
Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Werner, André, Fricke, Florian, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
23rd Reconfigurable Architectures Workshop (RAW 2016), Chicago, USA, S. 253 - 258
ISBN
978-1-5090-3682-0
Efficient Camera Input System and Memory Partition for a Vision Soft-Processor
Autor(en)
Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Kautz, Frederik, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Cham : Springer
Quelle
Applied reconfigurable computing, 12th international symposium, ARC 2016, Mangaratiba, RJ, Brazil, March 22-24, 2016, S. 328 - 333
ISBN
978-3-319-30480-9
978-3-319-30481-6
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
Lecture notes in computer science ; 9625
Enabling Dynamic Reconfiguration of Numerical Methods for the Robotic Motion Control Task
Autor(en)
Schwiegelshohn, Fynn, Kästner, Florian, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
23rd Reconfigurable Architectures Workshop (RAW 2016), Chicago, USA, S. 283 - 288
ISBN
978-1-5090-3682-0
A Hardware/Software Co-Design Approach for Control Applications with Static Real-Time Reallocation
Autor(en)
Janßen, Benedikt, Naserddin, Moataz, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
23rd Reconfigurable Architectures Workshop (RAW 2016), Chicago, USA
ISBN
978-1-5090-3682-0
FGPU: An SIMT-Architecture for FPGAs
Autor(en)
Al Kadi, Muhammed Soubhi, Janßen, Benedikt, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
New York, NY : ACM, Association for Computing Machinery
Quelle
FPGA '16 Proceedings of the 2016 ACM/SIGDA International Symposium on Field-Programmable Gate Arrays, Monterey, California, USA — February 21 - 23, 2016, S. 254 - 263
ISBN
978-1-4503-3856-1
978-1-4503-4468-5
A resampling method for parallel particle filter architectures
Autor(en)
Schwiegelshohn, Fynn, Ossovski, Eugen, Hübner, Michael
Enabling indoor object localization through Bluetooth beacons on the RADIO robot platform
Autor(en)
Schwiegelshohn, Fynn, Wehner, Philipp, Werner, Florian, Gohringer, Diana, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
Proceedings, 2016 International Conference on Embedded Computer Systems, Architectures, Modeling and Simulation (SAMOS XVI), July 17-21, 2016, Samos, Greece, S. 328 - 333
18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, DDECS 2015, 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia, proceedings, S. 17 - 22
ISBN
978-1-4799-6779-7
978-1-4799-6780-3
Exploring diagnostic capabilities of software-based self-tests for production and in-field application
Autor(en)
Koal, Tobias, Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
Proceedings of the 2015 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and Their Application to Mechatronics (ECMSM), June 22-24, 2015, Liberec, Czech Republic, S. 1 - 6
ISBN
978-1-4799-6970-8
978-1-4799-6973-9
Towards an Interactive Dependability-Aware Design Space Exploration
Autor(en)
Scharoba, Stefan, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Linz : Johannes Kepler Universität
Quelle
Proceedings of the work in progress session held in connection with SEAA 2015, the 41st EUROMICRO Conference on Software Engineering and Advanced Applications and DSD 2015, the 18th EUROMICRO Conference on Digital System Design, Funchal, Madeira
ISBN
978-3-902457-44-8
Error Resilience in Digital Integrated Circuits
Autor(en)
Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
Proceedings of the 2015 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and Their Application to Mechatronics (ECMSM), June 22-24, 2015, Liberec, Czech Republic
ISBN
978-1-4799-6970-8
Erzeugung diagnostischer Testmuster unter komplexen Contraints
Autor(en)
Koal, Tobias, Eggersglüß, S., Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Reutlingen : Robert Bosch GmbH
Quelle
Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 27. GI/GMM/ITG-Workshop, 1.-3. März 2015,
Redundancy evaluation process of processor components for permanent fault compensation
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
2015 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems (AHS 2015), Montréal, Quebec, Canada, 15-18 June 2015, S. 1 - 6
ISBN
978-1-4673-7501-6
978-1-4673-7502-3
Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung
Autor(en)
Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Cunningham, Douglas W., Hofstedt, Petra, Meer, Klaus, Schmitt, Ingo
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Bonn : Gesellschaft für Informatik
Quelle
Informatik 2015, Tagung vom 28. September – 2. Oktober 2015 in Cottbus, S. 1399 - 1414
ISBN
978-3-88579-640-4
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
GI-Edition : Lecture Notes in Informatics ; 246
Detection and Correction of Logic Errors Using Extra Time Slots
Autor(en)
Dicorato, Davide, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Cunningham, Douglas W., Hofstedt, Petra, Meer, Klaus, Schmitt, Ingo
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Bonn : Gesellschaft für Informatik
Quelle
Informatik 2015, Tagung vom 28. September – 2. Oktober 2015 in Cottbus, S. 1431 - 1444
ISBN
978-3-88579-640-4
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
GI-Edition : Lecture Notes in Informatics ; 246
A framework to the design and programming of many-core focal-plane vision processors
Autor(en)
Mori Alves da Silva, Jones Yudi, Llanos, Carlos, Hübner, Michael
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2015
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
IEEE 13th International Conference on Embedded and Ubiquitous Computing, 21-23 Oct. 2015, Porto, Portugal, S. 193 - 198
Correcting Delay Faults and Transient Faults in Pipelines
Autor(en)
Scharoba, Stefan, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2015
Quelle
8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design, Siegen, Germany, 21-23 Sept. 2015, S. 7
ISBN
978-3-8007-4071-0
Vergleich der Beschreibung und Simulation einer Befehlssatzarchitektur in LISA und CoMet
Autor(en)
Urban, Roberto, Lehniger, Kai, Heyne, Maximilian, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
Göttingen : Cuvillier Verlag
Quelle
MBMV 2014, Böblingen, Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, S. 101 - 112
ISBN
978-3-95404-637-9
Entwicklungsumgebung für den compilerzentrierten Mikroprozessorentwurf (CoMet)
Autor(en)
Urban, Roberto, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
Stuttgart : Fraunhofer Verlag
Quelle
DASS 2014, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf, Tagungsband
ISBN
978-3-8396-0738-1
Reconfigurable High Performance Architectures
Autor(en)
Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
IEEE
Quelle
19th IEEE European Test Symposium (ETS), 26 May - 30 May 2014, Paderborn
ISBN
978-1-4799-3415-7
Systematic Generation of Diagnostic Software-Based Self-Test Routines for Processor Components
Autor(en)
Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
IEEE
Quelle
19th IEEE European Test Symposium (ETS), 26 May - 30 May 2014, Paderborn
ISBN
978-1-4799-3415-7
Timing for Virtual TMR in Logic Circuits
Autor(en)
Müller, Sebastian, Koal, Tobias, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Quelle
IOLTS 2014, 20th IEEE International On-Line Testing Symposium Hotel Cap Roig, Platja d'Aro, Catalunya, Spain July 7-9, 2014
ISBN
978-1-4799-5324-0
Probleme bei Erzeugung und simulationsbasierten Validierung softwarebasierter Selbsttests zur feingranularen Diagnose
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
Stuttgart : Fraunhofer Verlag
Quelle
DASS 2014, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf, Tagungsband
ISBN
978-3-8396-0738-1
Combining Fault Tolerance and Self Repair at Minimum Cost in Power and Hardware
Autor(en)
Koal, Tobias, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
IEEE CS Press
Quelle
IEEE International Symposium DDECS 2014, Warschau, S. 153 - 159
ISBN
978-1-4799-4560-3
Diagnostics self-test for dynamically scheduled superscalar processors based on reconfiguration techniques for handling permanent faults
Autor(en)
Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2014), Amsterdam, Netherlands, 1 - 3 October 2014, S. 27 - 32
ISBN
978-1-4799-6155-9
978-1-4799-6156-6
On reliability Estimation for Combined Transient and Permanent Fault Handling
Autor(en)
Scharoba, Stefan, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2014
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
14th Biennial Baltic Electronic Conference (BEC), Tallinn, Estonia, 6-8 October 2014, S. 73 - 76
ISBN
978-1-4673-9539-7
978-1-4673-9540-3
Potential of Using a Reconfigurable System on a Superscalar Core for ILP Improvements
Autor(en)
Brandalero, Marcelo, Beck, Antonio Carlos Schneider
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2014
Quelle
2014 Brazilian Symposium on Computing Systems Engineering, S. 43 - 48
Hierarchical Self-repair in Heterogenous Multi-core Systems by Means of a Software-based Reconfiguration
Autor(en)
Müller, Sebastian, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Piscataway : IEEE
Quelle
VEFRE 8th Workshop on Dependability and Fault-Tolerance, Proceedings of ARCS 2012 Workshops
ISBN
978-1-4673-1913-3
Adaptiver softwarebasierter Selbsttest einfacher RISC-Prozessoren zur Lokalisierung von permanenten Fehlern im Feld
Autor(en)
Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Dresden : Fraunhofer IIS, Institutsteil EAS [u.a.]
Quelle
Dresdner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS), Dresden, Mai 2012, Tagungsband, S. 150 - 155
ISBN
978-3-8396-0404-5
An Adaptive Self-Test Routine for In-Field Diagnosis of Permanent Faults in Simple RISC Cores
Autor(en)
Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Raik, Jaan
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Piscataway : IEEE
Quelle
Proceedings, 15th IEEE Interantional Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Tallinn, April 2012, S. 312 - 317
ISBN
978-1-4673-1185-4
Logic Self Repair Architecture with Self Test Capabilities
Autor(en)
Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Engelke, Piet, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Drechsler, Rolf
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Quelle
Zuverlässigkeit und Entwurf, 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 25. bis 27. September 2012 in Bremen
ISBN
978-3-8007-3445-0
Scan Based Tests Via Standard Interfaces
Autor(en)
Gleichner, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor, Engelke, Piet
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Piscataway : IEEE
Quelle
15th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), September 2012, S. 844 - 851
ISBN
978-0-7695-4798-5
978-1-4673-2498-4
Activity Migration in M-of-N-Systems by Means of Loading-Balancing
Autor(en)
Ulbricht, Markus, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Piscataway : IEEE
Quelle
15th Euromicro Conference on Digital Systems Design (DSD), September 2012, S. 258 - 263
ISBN
978-1-4673-2498-4
Selbstreparatur für Logik-Baugruppen mit erweiterten Fähigkeiten für die Kompensation von Fertigungsfehlern und Frühausfällen
Autor(en)
Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Engelke, Piet, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Dresden : Fraunhofer IIS, Institutsteil EAS [u.a.]
Quelle
Dresdner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS), Dresden, Mai 2012, Tagungsband
ISBN
978-3-8396-0404-5
Combining On-Line Fault Detection and Logic Self Repair
Autor(en)
Koal, Tobias, Ulbricht, Markus, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Raik, Jaan
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2012
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2012), Tallin, Estonia, 18 - 20 April 2012, S. 288 - 293
ISBN
978-1-4673-1185-4
A Satellite Internal Communication Controller: Design and Implementation
Advances in Circuits, Systems, Automation and Mechanics : 11th WSEAS International Conference on Circuits, Systems Electronics, Control and Signal Processing, Montreux, S. 87 - 90
A New Hierarchical Built-In Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors
Autor(en)
Ulbricht, Markus, Schölzel, Mario, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2011
Freie Schlagworte
Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Quelle
IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011, S. 143 - 146
5. GI /GMM/ITG-Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf"
Dependability and Life Time Enhancement for Nano-Electronic Systems
Autor(en)
Koal, Tobias, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2011
Verlag
Poznan : Univ. of Technology, Fac. of Computing, Chair of Control and System Engineering
Freie Schlagworte
ICs; Mikroelektronik; Zuverlässigkeit
Quelle
Signal processing, SPA 2011, Poznan, 29 - 30th September 2011, conference proceedings, S. 61 - 67
ISBN
978-83-62065-02-8
On the Feasibility of Built-in Self Repair for Logic Circuits
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Schölzel, Mario, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2011
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
ICs; Test; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2011), Vancouver, British Columbia, Canada, 3 - 5 October 2011, S. 316 - 324
ISBN
978-1-4577-1713-0
Fine-Grained Software-Based Self Repair of VLIW Processors
2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2011), Vancouver, British Columbia, Canada, 3 - 5 October 2011, S. 41 - 49
ISBN
978-1-4577-1713-0
Self Repair Technology for Global Interconnects on SoCs
Autor(en)
Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2011
Verlag
Hershay, Pa. [u.a.] : Information Science Reference
Quelle
Design and test technology for dependable systems-on-chip, S. 195 - 215
ISBN
978-1-6096-0212-3
Built-in Self Repair for Logic Structures
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2011
Verlag
Hershay, Pa. [u.a.] : Information Science Reference
Quelle
Design and test technology for dependable systems-on-chip
ISBN
978-1-6096-0212-3
SoC Self Test Based on a Test Processor
Autor(en)
Koal, Tobias, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2011
Verlag
Hershey [u.a.] : IGI Global
Quelle
Design an Test Technology for Dependable Systems on Chip, S. 360 - 375
ISBN
978-1-6096-0212-3
Self Repair by Program Reconfiguration in VLIW Processor Architectures
Autor(en)
Schölzel, Mario, Pawlowski, Pawel, Dabrowski, Adam
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2011
Verlag
Hershay, Pa. [u.a.] : Information Science Reference
Quelle
Design and test technology for dependable systems-on-chip, S. 241 - 266
ISBN
978-1-6096-0212-3
Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik
Autor(en)
Gleichner, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2010
Quelle
TuZ (2010)pp. 79-84
Eingebaute Selbstreparatur zur Kompensation von Produktions- und Alterungsfehlern
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Quelle
Elst, Günter (Hrsg.): DASS 2010, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf. - Stuttgart : Fraunhofer-Verl., 2010 S. 73-78, 978-3-8396-0126-6
Möglichkeiten und Grenzen der Software-basierten Selbstreparatur in statisch geplanten superskalaren Prozessorarchitekturen
Autor(en)
Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Quelle
Elst, Günter (Hrsg.): DASS 2010, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf. - Stuttgart : Fraunhofer-Verl., 2010 S. 79-84, 978-3-8396-0126-6
HW / SW Co-Detection of Transient and Permanent Faults with Fast Recovery in Statically Scheduled Data Paths
Autor(en)
Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2010, Dresden, Germany, 8 - 12 March 2010, S. 723 - 728
ISBN
978-1-4244-7054-9
Software-Based Self-Repair of Statically Scheduled Superscalar Data Paths
Autor(en)
Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Quelle
Proceedings of the 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Vienna, April 2010, pp. 66-71
Test Data and Power Reductions for Transition Delay Tests for Massive Parallel Scan Structures
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
ICs; Test; low-power
Quelle
2010 13th Euromicro Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools (DSD 2010), Lille, France, 1 - 3 September 2010, S. 283 - 290
Effective Logic Self Repair Based on Extracted Logic Clusters
Autor(en)
Gleichner, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Verlag
IEEE
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Signal Processing Algorithms, Architectures, Arrangements, and Applications Conference Proceedings (SPA), 2010, Poznan
ISBN
978-1-4577-1485-6
Combining Hardware and Software Based Self Repair Methods for Statically Scheduled Data Paths
Autor(en)
Müller, Sebastian, Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
Prozessoren; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2010), Kyoto, Japan, 6 - 8 October 2010, S. 90 - 98
ISBN
978-1-424-48447-8
Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren zur Fehlerkompensation und Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte
ICs; Fehler; Test; Selbstreparatur
Quelle
Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth, S. 57 - 62
ISBN
978-3-8007-3299-9
A Software Based Self Test and Hardware Reconfiguration Solution for VLIW Processors
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
Prozessoren; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010, S. 40 - 43
ISBN
978-1-4244-6612-2
Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
ICs; Zuverlässigkeit; Test; Selbstreparatur
Quelle
2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010, S. 99 - 104
ISBN
978-1-4244-6613-9
Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik
Autor(en)
Gleichner, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2010
Freie Schlagworte
ICs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Hellebrand, S. (Hrsg.): Tagungsband TuZ 2010, Paderborn
Logik-Selbstreparatur auf der Basis elementarer Logik-Blöcke mit lokaler Redundanz
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Drechsler, R. (Hrsg.): Proc. TUZ 2009, U. Bremen
Logic Self Repair Based on Regular Buidling Blocks
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Proc. ARCS2009 Workshop on Fault Tolerance,VDI / VDE
Scaling the Discrete Cosine Transformation for Fault-Torelant Real-Time Execution
Autor(en)
Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Poznan : Univ. of Technology, Fac. of Computing Science and Management
Quelle
Signal processing, SPA 2009, Poznan, 24th - 26th September 2009, conference proceedings, S. 19 - 24
ISBN
978-83-62065-00-4
A Comprehensive Scheme for Logic Self Repair
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Poznan : Univ. of Technology, Fac. of Computing Science and Management
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Signal processing, SPA 2009, Poznan, 24th - 26th September 2009, conference proceedings, S. 13 - 18
ISBN
978-83-62065-00-4
A Concept for Logic Self Repair
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece, S. 621 - 624
ISBN
978-1-424-44768-8
Reliability Estimation Process
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle
12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece, S. 221 - 224
ISBN
978-1-424-44768-8
Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Zuverlässigkeit und Entwurf, 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart, S. 29 - 36
ISBN
978-3-8007-3178-7
Zentrale und dezentrale Selbstreparatur von Bussen
Autor(en)
Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle
Proceedings, EdaWorkshop 09, Dresden (Germany), May 26 - 28, 2009, S. 37 - 42
ISBN
978-3-8007-3165-7
Zentrale und dezentrale Selbstreparatur von Bussen
Autor(en)
Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Drechsler, R. (Hrsg.): Proceedings TUZ 2009, Bremen
A Scheme of Logic Self Repair Including Local Interconnects
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
12th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, DDECS, Liberec, Czech Republic, 15 - 17 April 2009
ISBN
978-1-4244-3339-1
A Delay Estimation of Rescheduling Schemes for Statically Scheduled Processors
Autor(en)
Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte
Prozessoren; Fehlertoleranz
Quelle
Workshop proceedings, ARCS 2009, 22th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 11, 2009, Delft, The Netherlands, S. 117 - 124
ISBN
978-3-8007-3133-6
Logic Self Repair Based on Regular Building Blocks
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2009
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Quelle
Workshop proceedings, ARCS 2009, 22th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 11, 2009, Delft, The Netherlands, S. 71 - 76
ISBN
978-3-8007-3133-6
Basic Architecture for Logic Self Repair
Autor(en)
Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Quelle
14th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2008. - Piscataway : IEEE, 2008, S. 177-178, 978-0-7695-3264-6
A Scan Controller Concept for Low-Power Scan Test
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Artikel
Erscheinungsjahr
2008
Freie Schlagworte
Test; Low-Power
Quelle
Journal of Low-Power Electronis Vol. 4(2008) 1-9, 1546-1998
Test Technology for Sequential Circuits
Autor(en)
Vierhaus, Heinrich Theodor, Stamenković, Zoran
Herausgeber
Oklobdzija, Vojin G.
Publikationsart
Teil eines Buches (Kapitel)
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Boca Raton : CRC Press
Freie Schlagworte
Test; Testable Design
Quelle
The Computer Engineering Handbook, Part 1, Digital design and fabrication
ISBN
978-0-8493-8602-2
Simulated fault injections and their acceleration in system C
Autor(en)
Misera, Silvio Andre, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Artikel
Erscheinungsjahr
2008
Freie Schlagworte
Fehlersimulation
Quelle
Journal of Microprocessors and Microsystems 32(2008)5-6, pp. 270-278, 0141-9331
Logic Self Repair based on Regular Building Blocks
Autor(en)
Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Dabrowksi, A. (Hrsg.): Proc. IEEE NTAV /SPA 2008, Poznan
Fehlertolerante Busse basierend auf Codes und Selbstreparatur
Autor(en)
Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Zuverlässigkeit und Entwurf : 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung in Ingolstadt, September 2008. - Offenbach : VDI/VDE-Verlag, 2008, S. 157 - 158, 978-3-8007-3119-0 (GMM-Fachbericht ; 57)
Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle
Zuverlässigkeit und Entwurf, 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt, S. 57 - 64
ISBN
978-3-8007-3119-0
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
GMM Fachbericht ; 57
Embedded Diagnostic Logic Test Exploiting Regularity
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Fanucci, Luca
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
IC-Test
Quelle
Proceedings, 11th EUROMICRO Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, 2008, DSD '08, 3 - 5 Sept. 2008, Parma, Italy, S. 873 - 879
Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik
Autor(en)
Koal, Tobias, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Dresden : Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS'2008), Workshop Entwurf integrierter Schaltungen (WEIS'08) 15. - 16. Mai 2008
ISBN
3-9810287-2-4
Ein hybrides Selbsttest- und Reparaturkonzept für VLIW-Prozessoren
Autor(en)
Schölzel, Mario
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Freie Schlagworte
Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Quelle
Steininger, A. (Hrsg.): Proc. 20th ITG-GI-GMM-Workshop "Test und Zuverlässigkeit" 2008, TU Wien, Februar 2008
Angepasste Fehlerdiagnose für die Selbstreparatur in logischen Schaltungen
Autor(en)
Kothe, René, Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Elst, G.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Dresden : Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen
Quelle
Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf, (DASS'2008), Workshop Entwurf integrierter Schaltungen (WEIS'08) 15. - 16. Mai 2008
ISBN
3-9810287-2-4
Fehlertolerante integrierte Verbindungsstrukturen
Autor(en)
Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Elst, G.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Dresden : Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen
Quelle
Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS'2008), S. 15 - 16
ISBN
3-9810287-2-4
Fault Diagnosis in Logic Circuits Exploiting Regularity
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Quelle
Tagungsband, edaWorkshop 08, Hannover, 6. - 7. Mai 2008, S. 57 - 62
ISBN
978-3-8007-3101-5
Fehlertoleranz und Selbstreparatur von Verbindungsstrukturen auf SoCs
Autor(en)
Scheit, Daniel, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Steininger, Andreas
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2008
Verlag
Wien : Techn. Univ.
Quelle
20. ITG-GI-Workshop, Wien, TUZ 2008, S. 121 - 126
Simulation von Fehlern in digitalen Schaltungen mit SystemC
Fault Injection Techniques and their Acccelerated Simulation in SystemC
Autor(en)
Sieber, André, Misera, Silvio Andre, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Freie Schlagworte
ICs; Test; Fehlersimulation
Quelle
Proceedings, 10th Euromicro Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, DSD 2007, 29 - 31 August 2007, Lübeck, Germany, S. 587 - 595
ISBN
978-0-7695-2978-3
A Configurable Modular Test Processor and Scan Controller Architecture
Autor(en)
Frost, Raik, Rudolph, D., Galke, Christian, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Test; Selbsttest
Quelle
Proceedings, IOLTS 2007, 13th IEEE International On-Line Testing Symposium, Heraklion, Crete, Greece, 8 - 11 July 2007, S. 277 - 284
ISBN
0-7695-2918-6
Möglichkeiten und Grenzen der automatischen SBST-Generierung für einfache Prozessoren
Autor(en)
Galke, Christian, Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Dresden : TUDpress, Verl. der Wissenschaften
Freie Schlagworte
Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Quelle
Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS' 2007), 8. - 9. Mai 2007, S. 39 - 44
Flip-Flops and Scan Path Elements for Nanoelectronics
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
IEEE
Freie Schlagworte
ICs; Test; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle
Proceedings, Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS '07, Krakow, 11 - 13 April 2007
ISBN
1-4244-1162-9
Hardware-nahe Fehlersimulation mit effektiven SystemC-Modellen
Autor(en)
Misera, Silvio Andre, Sieber, André
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Aachen : Shaker
Freie Schlagworte
ICs; Fehler; Test; Fehlersimulation
Quelle
Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 10. GI/ITG/GMM-Workshop Modellierung und Verifikation, S. 39 - 48
Reparaturfunktionen für Bus-Strukturen auf SoCs
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Sattler, Sebastian
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verl.
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Test; Selbstreparatur
Quelle
Zuverlässigkeit und Entwurf, 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München, S. 77 - 84
ISBN
978-3-8007-3023-0
3-8007-3023-5
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
GMM-Fachbericht ; 52
Repair Functions and Redundancy Management for Bus Structures
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Berlin [u.a.] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte
ICs; Zuverlässigkeit; Fehlertoleranz
Quelle
Workshop proceedings, ARCS 2007, 20th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 15, 2007, Zurich, Switzerland
ISBN
978-3-8007-3015-5
Hardware-nahe Fehlersimulation mit effektievn SystemC-Modellen
Autor(en)
Misera, Silvio, Sieber, André
Herausgeber
Haubelt, Christian, Teich, Jürgen
Publikationsart
Teil eines Buches (Kapitel)
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Aachen : Shaker
Quelle
Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, S. 39 - 48
ISBN
978-3-8322-5956-3
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
Berichte aus der Informatik
Fehlerinjektionstechniken in SystemC-Beschreibungen mit Gate- und Switch-Level-Verhalten
Autor(en)
Misera, Silvio, Sieber, Andre
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Dresden : TUDpress
Quelle
Tagungsband, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2007), 8. - 9. Mai 2007, S. 29 - 34
Diagnostics Logic Testing Based on Advanced Scan Technology and an Embedded Test Processor
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Bericht
Erscheinungsjahr
2007
Verlag
Cottbus : BTU
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
Computer Science Report ; 2007,1
Logic Self Repair
Autor(en)
Galke, Christian, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Bonn : Ges. für Informatik
Quelle
Workshop proceedings, ARCS '06, 19th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 16, 2006, Frankfurt am Main, S. 36 - 44
ISBN
978-3-88579-175-1
Evaluating Coverage of Error Detection Logic for Soft Errors using Formal Methods
Autor(en)
Krautz, U., Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor, Jacobi, C., Tast, H. W.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE
Quelle
Design, automation and test in Europe, Munich, Germany, March 6 - 10, 2006, proceedings, vol. 1, S. 176 - 181
ISBN
3-9810801-1-4
Scan-Based SoC Test Using Space / Time Pattern Compaction Schemes
Autor(en)
Galke, Christian, Gätzschmann, Uwe, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Test; Test Compression
Quelle
Proceedings / 9th EUROMICRO Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, DSD 2006. - Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society, 2006, S. 433 - 438, 0-7695-2609-8
A Mixed Level Fault Simulation of VHDL and SystemC
Autor(en)
Misera, Silvio Andre, Breitenfeld, Lars, Sieber, André, Vierhaus, Heinrich Theodor
Redundanz-Management und Fehlerisolierung für die Selbstreparatur in digitalen und analogen Schaltungen
Autor(en)
Kothe, René, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Berlin [u.a] : VDE-Verlag
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
ANALOG '06, Vorträge der 9. ITG/GMM-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2006 in Dresden, S. 57 - 62
ISBN
978-3-8007-2988-3
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
ITG-Fachbericht ; 196
Eine Mixed-Language-Fault-Simulation von VHDL- und SystemC-Modellen
Autor(en)
Misera, Silvio Andre, Sieber, André, Breitenfeld, Lars, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Dresden : Fraunhofer-Institut
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Fehlersimulation
Quelle
Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2006), 10. - 11. Mai 2006
Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrieten Schaltungen- Möglichkeiten und Grenzen
Autor(en)
Kothe, René, Habermann, Sven, Vierhaus, Heinrich Theodor, Coym, Torsten, Vermeiren, W., Straube, B.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Dresden : Fraunhofer-Institut
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Fehlertoleranz; Selbstreparatur
Quelle
Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2006), 10. - 11. Mai 2006
Embedded Self Repair by Transistor and Gate Level Reconfiguration
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor, Coym, Torsten, Vermeiren, W., Straube, B.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
IEEE
Freie Schlagworte
ICs; SoCs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems, (DDECS 2006), Prag, April 2006, S. 208 - 213
ISBN
1-4244-0185-2
Embedded Scan Test with Diagnostic Features for Self-Testing SoCs
Autor(en)
Galke, Christian, Kothe, René, Schultke, Sabine, Winkler, Christin, Honko, Jeanette, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Freie Schlagworte
ICs; Test; Selbsttest
Quelle
Proceedings - IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006, S. 181 - 182
ISBN
978-0-7695-2620-1
Built-in Self Repair by Reconfiguration of FPGAs
Autor(en)
Habermann, Sven, Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Los Alamitos, Calif [u.a.] : IEEE Computer Society
Freie Schlagworte
ICs; FPGAs; Zuverlässigkeit; Selbstreparatur
Quelle
Proceedings - IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006, S. 187 - 188
ISBN
978-0-7695-2620-1
Timing-Power-getriebener Layout-Entwurf für Zellen-basierte Digitalschaltungen
Autor(en)
Vick, Axel, Rossmann, Helmut, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Freie Schlagworte
ICs; Layout; Synthese; Timing; Power
Quelle
Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 9. ITG/GI/GMM Workshop, 20. - 22. Februar 2006, Dresden, S. 61 - 69
An Embedded Test Strategy for Global and Regiional Interconnects on SoCs
Autor(en)
Kothe, René, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Dabrowski, Adam
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Freie Schlagworte
Bus-Test; ICs; Test
Quelle
Signal processing '2006, workshop proceedings, Poznan, 29th September 2006, S. 65 - 70
ISBN
83-913251-7-2
Hierarchische Fehlersimulation mit effektiven SystemC-Modellen
Autor(en)
Misera, Silvio
Herausgeber
Bachmann, Peter, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Cottbus : BTU, Inst. of Computer Science
Quelle
1st Cooperation Workshop of Computer Science, 2006, Cottbus, S. 31 - 36
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
Computer science reports ; 2006,3
Hardware/Software Based Hierarchical Self Test for SoCs
Autor(en)
Kothe, René, Galke, Christian, Schultke, Sabine, Fröschke, Henry, Gaede, Steffen, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2006
Verlag
Piscataway, NJ : IEEE Service Center
Quelle
Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April 18-21, 2006, Prague, Czech Republic, S. 157 - 158
ISBN
1-4244-0185-2
Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrierten Schaltungen - Möglichkeiten und Grenzen
Autor(en)
Kothe, René, Habermann, Sven, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel nicht referiert
Erscheinungsjahr
2006
Quelle
Forum der Forschung, S. 125 - 130
Band/Jahrgang
10
Ausgabe/Heft
19
ISSN
0947-6989
Power-Timing Optimierung für Zellen-basierte Digitalschaltungen in Submikron-Technologien
Autor(en)
Vierhaus, Heinrich Theodor, Rossmann, Helmut
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2005
Verlag
Bonn : Gesellschaft für Informatik
Quelle
Informatik 2005 - Informatik LIVE!, Beiträge der 35. Jahrestagung der Gesellschaft für Informatik e.V., 19. - 22. September 2005 in Bonn, Bd. 1, S. 339 - 343
ISBN
3-88579-396-2
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
GI-Edition : Proceedings ; 67
Transistor- and Gate Level Self Repair for Logic Circuits
Autor(en)
Vierhaus, Heinrich Theodor, Dabrowski, Adam
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
Signal processing '2005, workshop proceedings, Poznan, 30th September 2005, S. 7 - 12
ISBN
83-913251-6-4
Ein flexibler Ansatz für den Scan-Test von SoCs
Autor(en)
Gätzschmann, Uwe, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor, Kaibel, M.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
17. ITG-GI-GMM-Workshop Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Inssbruck, Febr./März 2005, S. 32-36
A Multi-Purpose Concept for SoC Self Test Including Diagnostics Features
Autor(en)
Kothe, René, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2005
Verlag
IEEE Computer Society : Los Alamitos, Calif. [u.a.]
Quelle
11th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2005, IOLTS 2005, 6 - 8 July 2005, [Saint Raphael, French Riviera, France, proceedings], S. 241 - 246
ISBN
0-7695-2406-0
Eine Simulationsumgebung zur Validierung des Fehlerverhaltens für Prozessor-basierte Systeme
Autor(en)
Galke, Christian, Misera, Silvio, Fröschke, Henry, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Hellebrand, Sybille
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 17. ITG/GI/GMM Workshop, 27. Febr. - 1. März 2005, Hilton Innsbruck, Österreich
Parallele hierarchische Fehlersimulation zur Validierung des Fehlerverhaltens für SoCs
Autor(en)
Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor, Misera, Silvio, Fröschke, Henry
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
GI/ITG/GMM-Workshop Modellierung und Verifikation, 2005 an der TU München
A Hierarchical Self Test Scheme for SoCs
Autor(en)
Kretzschmar, Claudia, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2004
Quelle
Metra, Cecilia (Hrsg.): Proceedings / 10th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2004 : 12 - 14 July 2004, Funchal, Madeira Island, Portugal. - Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society, 2004, S. 37-42, 0-7695-2180-0
Ein funktionales Selbsttest-Konzept für Prozessor-Strukturen am Beispiel des Testprozessors T5016p
Autor(en)
Schwabe, Hanko, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2004
Quelle
Straube, Bernd (Red.): Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : 16. ITG/GI/GMM Workshop, 29. Februar - 2. März 2004 in Dresden, Dresden : Fraunhofer IIS/EAS, 2004
Ein flexibles Verfahren zur Testdaten-Kompaktierung und -Dekompaktierung für den Scan-Test
Autor(en)
Gätzschmann, Uwe, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2004
Quelle
Straube, Bernd (Red.): Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : 16. ITG/GI/GMM Workshop, 29. Februar - 2. März 2004 in Dresden, Dresden : Fraunhofer IIS/EAS, 2004
FIT - a parallel hierarchical fault simulator
Autor(en)
Misera, Silvio Andre, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2004
Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle
PARELEC 2004, International Conference on Parallel Computing in Electrical Engineering, and Workshop on System Design Automation (SDA), 7 - 10 September 2004, Dresden, Germany, S. 289 - 296
ISBN
0-7695-2080-4
Application Specific Processor Design for Digital Signal Processing
Autor(en)
Schölzel, Mario, Bachmann, Peter, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Dabrowski, Adam
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2004
Verlag
Poznan : Poznan Univ. of Technology
Quelle
Signal processing '2004, workshop proceedings, Poznan, 24th September 2004, S. 7 - 15
ISBN
83-913251-5-6
Kompaktierung von Testmustern für den Test von SoCs mittels einer Testprozessor-Architektur
Autor(en)
Galke, Christian, Grabow, M., Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2003
Quelle
15. ITG-GI-GMM-Workshop: Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Timmendorfer Strand, März 2003 (Poster-Session)
Test Pattern De-/Compaction for SoC Test in a Test Processor Environment
Autor(en)
Galke, Christian, Grabow, M., Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2003
Quelle
8th IEEE European Test Workshop, Maastricht, May 2003 (Poster-Session)
Perspectives of combining online and offline test technology for dependable systems on a chip
Autor(en)
Galke, Christian, Grabow, M., Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2003
Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE
Quelle
Proceedings, 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003, 7 - 9 July 2003, Kos International Convention Center, Kos Island, Greece, S. 183 - 187
ISBN
0-7695-1968-7
Detection and Compensation of Transient Errors in Processor Structures
Autor(en)
Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2003
Quelle
6th IEEE Intern. Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Poznan, April 2003
Control Signal Protection - A New Challenge for High Performance Processors
Autor(en)
Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2003
Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle
Proceedings, 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003, 7 - 9 July 2003, Kos International Convention Center, Kos Island, Greece, S. 173 - 177
ISBN
0-7695-1968-7
Testing of Synchronous Sequential Digital Circuits
Autor(en)
Gläser, Uwe, Stamenković, Zoran, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Oklobdzija, Vojin G.
Publikationsart
Teil eines Buches (Kapitel)
Erscheinungsjahr
2002
Verlag
Boca Raton [u.a.] : CRC Press
Quelle
The Computer Engineering Handbook, S. 45-1 - 45-22
ISBN
0-8493-0885-2
On-Line Error Detection and Correction in Storage Elements with Cross-Parity Check
Autor(en)
Pflanz, Matthias, Walther, Karsten, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2002
Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle
Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop, (IOLTW 2002), 8 - 10 July 2002, Isle of Bendor, France, S. 69 - 73
ISBN
0-7695-1641-6
On-Line Detection and Compensation of Transient Errors in Processor Pipeline Structurs
Autor(en)
Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2002
Verlag
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society
Quelle
Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop, (IOLTW 2002), 8 - 10 July 2002, Isle of Bendor, France
ISBN
0-7695-1641-6
Hardware/Software Based Test Techniques for Systems on a Chip with Embedded Processors
Autor(en)
Galke, Christian, Mohaupt, Thomas, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2002
Quelle
BTU Computer Science Reports No. 05/02
Hardware/Software basierter Selbsttest für System on a Chip (SOCs) mit eingebetteten Prozessoren
Autor(en)
Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Hennig, Hardy, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Wagner, Ralph
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2002
Quelle
Proceeding 14. ITG-Gi-Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Bad Herrenalb
A Test Processor Concept for Systems-on-a-Chip
Autor(en)
Galke, Christian, Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2002
Quelle
Proceeding IEEE International Conference on Computer Design (ICCD), Freiburg, pp. 210-213, 0-7695-1700-5
Online error detection and fast recover techniques for dependable embedded processors
Autor(en)
Pflanz, Matthias
Publikationsart
Dissertation
Erscheinungsjahr
2002
Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
ISBN
3-540-43318-X
Schriftenreihe(n) ; Bandnummer
Lecture notes in computer science ; 2270
On-Line Built-In Self-Check Techniken für zuverlässige eingebettete Prozessoren mit hoher Konplexität
Autor(en)
Pflanz, Matthias, Walther, Karsten, Vierhaus, Heinrich Theodor
Herausgeber
Alt, Jürgen
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2001
Quelle
Procedding 13. ITG-GI-Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systeme", Miesbach
On-line Error Detection Techniques for Depandable Embedded Processors with High Complexity
Autor(en)
Pflanz, Matthias, Walther, Karsten, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2001
Quelle
Proceeding 7th IEEE International On-Line Test Workshop
Quelle
Proceedings, Seventh International On-Line Testing Workshop, 9 - 11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy, S. 51 - 53
ISBN
0-7695-1290-9
Online Check and Recovery Techniques for Depandable Embedded Processors
Autor(en)
Pflanz, Matthias, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2001
Quelle
IEEE micro, S. 24 - 40
Band/Jahrgang
21
Ausgabe/Heft
5
ISSN
0272-1732
A Register Transfer Fault Simulator for Permanent and Transient Faults in Embedded Processors
Autor(en)
Rousselle, Christian, Pflanz, Matthias, Behling, A., Mohaupt, Thomas, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2001
Quelle
Proceedings, Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition 2001, Munich, Germany, March 13 - 16, 2001, S. 811
ISBN
0-7695-0993-2
0-7695-0994-0
Design and Architecture of Dependable Computer-Based Systems
Autor(en)
Vierhaus, Heinrich Theodor, Pflanz, Matthias, Mohaupt, Thomas
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel nicht referiert
Erscheinungsjahr
2000
Quelle
Proceedings of the Polish-German Symposium on Science-Research-Education (SRE), Sept. 2000, S.183-192, 83-85911-86-3
A New Method for On-Line State Machine Observation for Embedded Microprocessors
Autor(en)
Pflanz, Matthias, Galke, Christian, Vierhaus, Heinrich Theodor
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2000
Quelle
Proceedings / IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop : 8 - 10 November 2000, Berkeley, California. - Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society, 2000, S. 34-39, 0-7695-0786-7
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