Transient electro-thermal characterisation at systemlevel for an Easypack-IGBT-Module – Reduced order modelling (ROM) and junction temperature evaluation based on the onstate resistance
Autor(en)
Wiedemann, Gregor, Lamm, Tino, Schacht, Ralph
Publikationsart
Wissenschaftlicher Zeitschriftenartikel referiert
Erscheinungsjahr
2024
Verlag
IEEE
Freie Schlagworte
condition monitoring, health monitoring, insulated gate bipolar transistor (IGBT), junction temperature estimation, thermo-sensitive electrical parameter (TSEP), multistate fitting, SPICE
Quelle
2024 30th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC), S. 1 - 8
Full-field IR-thermography for bond-quality inspection of electroplated aluminium interconnects for Cryo-SiP architectures
Autor(en)
Wunderle, B., May, D., Cirulis, I., Braun, S., Zschenderlein, U., Heilmann, J., Türk, P., Pantou, R., Schacht, R., Rzepka, R., Ras, M. Abo, Kurth, S., Kuhn, H.
Full-field through-chip IR-thermography-based quality testing & failure analysis on electroplated aluminium interconnects for cryogenic applications in Ion-trap quantum computers
Autor(en)
May, D., Wunderle, B., Cirulis, I., Braun, S., Zschenderlein, U., Heilmann, J., Pantou, R., Schacht, R., Rzepka, R., Ras, M. Abo, Kurth, S., Kuhn, H.
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2024
Verlag
IEEE
Freie Schlagworte
IR transient thermography, failure analysis, electroplated aluminium joints, quantum computing.
Quelle
2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), S. 1 - 8
2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), S. 1 - 7
Realization, multi-field coupled simulation and characterization of a thermo-mechanically robust LiDAR front end on a copper coated glass substrateier den Haupttitel eintragen
Designstudie für einen reibungslosen Lamellenlüfter für das Wärmemanagement von Elektronik
Autor(en)
Schacht, Ralph
Herausgeber
Delgado, Antonio
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2019
Verlag
Karlsruhe : Deutsche Gesellschaft für Laser-Anemometrie - German Association for Laser Anemometry GALA e.V.
Freie Schlagworte
Reibungslos; Lamellenlüfter
Quelle
Experimentelle Strömungsmechanik : 27. Fachtagung 3.-5. September 2019 Erlangen, S. 391 - 397
ISBN
978-3-9816764-6-4
Experimentelle Studie mit numerischer Validierung von thermi-schen Kopplungs-Phänomenen mit in Flip-Chip-Technologie aufge-bauten Testchips auf Leiterplatten
Autor(en)
Nowak, Torsten, Merbold, Sebastian, Egbers, Christoph, Schacht, Ralph
Herausgeber
Delgado, Antonio
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung referiert
Erscheinungsjahr
2019
Verlag
Karlsruhe : Deutsche Gesellschaft für Laser-Anemometrie - German Association for Laser Anemometry GALA e.V.
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2016, multifunktionale Baugruppen - Leistungsdichte am Limit?, 8. DVS/GMM-Tagung vom 16.-17. Februar 2016 in Fellbach, S. 267 - 272
ISBN
978-3-8007-4147-2
Parametrisches transientes thermo-elektrisches PSPICE Modell für ein zwei-adriges Stromkabel
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2016, multifunktionale Baugruppen - Leistungsdichte am Limit?, 8. DVS/GMM-Tagung vom 16.-17. Februar 2016 in Fellbach, S. 294 - 298
ISBN
978-3-8007-4147-2
Coupling Effects during Thermo-Fluidic Analysis of Flip-Chip Devices with Peripheral Components – CFD Simulation and Experimental Study
Autor(en)
Nowak, Torsten, Schacht, Ralph
Publikationsart
Bild (Poster)
Erscheinungsjahr
2016
Freie Schlagworte
CFD, Flip-Chip, thermo-fluidic Experiment
Miniaturisierter reibungsloser Lamellenlüfter
Autor(en)
Schacht, Ralph
Publikationsart
Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr
2016
Verlag
Schmalkalden : IMAPS-Deutschland e.V.
Freie Schlagworte
Lüfter; zuverlässig; reibungsfrei; Lamelle
Quelle
Deutsche IMAPS Konferenz, IMAPS Herbstkonferenz, München, Oktober 2016
Thermo-fluidisch gekoppelte Untersuchung von Flip-Chips auf einer Leiterplatte
14th IEEE ITHERM Conference, Orlando(Fl), USA, May 30th, 2014, S. 1019 - 1026
ISBN
978-1-4799-5267-0
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