Ausstattung
Optisches Emissionsspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES)
ETV-ICP-OES
Raman-Spektrometer
konfokales Raman-Mikroskop
Konfokale Mikroskopie, Weisslicht-Interferometrie und Phasenverschiebungs-Interferometrie
diffuse Reflexions-Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie (DRIFTS)
Continuum-Source-AAS
Zeemann-Graphitrohr-AAS
Atomabsorptionsspektrometrie – Zeeman-Graphitrohr-AAS
| Funktionsprinzip: | Die Analytlösung wird in einen elektrisch geheizten Graphitrohrofen getropft (3-50µL) getrocknet, verdampft und bei Temperaturen bis 3000 K atomisiert. Durch Anregung der im Grundzustand befindlichen Atome der Probe mit dem Licht einer Hohlkathodenlampe (elementspezifische Spektrallichtquelle) wird Strahlung absorbiert und das daraus resultierende Spektrum mittels Lambert-Beerschem Gesetz ausgewertet. Beim einem Gerät mit Zeeman-Untergrundkorrektur wird transversal zum Graphitrohrofen ein starkes Magnetfeld definiert zugeschaltet. Dieses bewirkt eine Aufspaltung der Resonanzline in zwei polarisierte Komponenten, die nach kürzeren und längeren Wellenlängen verschoben gegenüber der Resonanzlinie sind (Zeeman-Effekt). Bei anliegendem Magnetfeld und Einsatz einem Polarisators wird auf der Position der Wellenlänge der Resonanzline nur die Untergrundabsorption, aber nicht die Atomabsorption gemessen. |
| Anwendungsgebiete: | Quantitative Einzelelementbestimmung von Neben- und Spurenkomponenten |
| Elementbereich: | Übergangselemente, z. B. Fe, Co, Ni, Mn, Zn, Au, Alkali- und Erdalkalielemente, z. B. Na, K, Mg, außerdem Si. Nicht bestimmbar sind Halogene, Schwefel, Kohlenstoff und gasförmige Elemente deren Resonanzlinie <190 nm ist. |
| Nachweisgrenze; | 0.05 bis 100 µg/g, je nach Element und Materialart |
| Relativer Fehler: | 0.5 - 3 % |
| Probenanforderungen: | Lösungen, Probenmenge: 2 - 20 mL |
| Geräte: | Atomabsorptionsspektrometer Zeenit650s (analytikjena AG) |
| Besonderheiten: | Verbesserung der Atomisierungseigenschaften von Proben durch Zugabe von Modifiern, Nutzung der Plattformtechnik und Zeemann-Untergrundkompensation |
| Anwendungsbeispiel: | Bestimmung Spurengehalte von Metallen in Lösungen |
Ionenchromatographische Systeme
Quadrupol-Massenspektrometer
Reflexionsmessung
Karl-Fischer-Titrator
Automatische Titration
Kontaktwinkel-Messgerät
Planetenkugelmühle
Mikrowellen-Aufschlusssysteme
Halogen-Feuchtebestimmer
Fluoreszenzspektrometer
Fluoreszenzspektroskopie
| Funktionsprinzip: | Elektronen werden durch Absorption von einem Singulett-Grundzustand S0 in ein beliebiges Schwingungsniveau des angeregten Zustandes S1 angeregt und gehen von dort unmittelbar und strahlungslos in den Schwingungszustand 0 des Zustandes S1 über. Die bei der Rückkehr von S1 in den Singulett-Grundzustand S0 beobachtete Emissionsstrahlung wird als Fluoreszenzemission bezeichnet. Demzufolge ist das Fluoreszenzspektrum gegenüber dem Absorptionsspektrum zu längeren Wellenlängen (d.h. niedrigeren Energien) verschoben. Fluoreszenz kann nur während oder nur unmittelbar nach der Anregung beobachtet werden. Experimentell erfolgt die Messung der Fluoreszenz senkrecht zur einfallenden Anregungsstrahlung, um deren Einfluss und den des ebenfalls auftretenden Streulichtanteils auf die Detektion der Fluoreszenzemission zu verringern. Die Intensität der Fluoreszenz I hängt von der Intensität des eingestrahlten Lichtes I0, dem Absorptionskoeffizient ε und der Fluoreszenzausbeute Q ab: I= I0*ε*Q |
| Anwendungsgebiete: | Biochemie, Zellbiologie, Pharmazie, Umweltanalytik (Spurenanalytik), Nahrungsmittelindustrie |
| Nachweisgrenze: | bestimmbarer Konzentrationsbereich 10-7 bis 10-4 M, (Kalibrationskurven >10-4 M wegen Quenching oder Selbstabsorption nicht mehr linear) |
| Probenanforderungen: | Lösungen, Feststoffe als Pulver oder flache Proben (z.B. Wafer) |
| Geräte: | Fluoromax |
| Anwendungsbeispiele: | Bestimmung kritischer Mizellbildungskonstanten, Messung der statischen Photolumineszenz von amorphem Silicium |