Ausstattung

Digitales Holographie Mikroskop (DHM)

Topographiemessgerät DHM R2203 erfasst die gesamte Topographieinformation einer mikroskopischen Probe innerhalb einer Einzelbildaufnahme mit einer Höhenauflösung bis zu 0.2nm. Dies ermöglicht 3D- Darstellungen in Echtzeit.

Ausstattung:
Objektive: 2.5x, 5x, 10x, 20x, 40x, 63x, 100x; 20x Verstärker (1MHz); Vakuumkammer; MiBots (Mikromanipulatoren); Pelton-Station; Schwingungsdämpfung; Reinraumzelt; Koala-Software

Optisches Mikroskop

Leica DM800M Inspektionsmikroskop mit vollständig integrierter LED-Beleuchtung für konstante Farbtemperatur in allen Kontrastverfahren Hellfeld (BF), Dunkelfeld (DF), Differentieller Interferenz Kontrast (DIC), Polarisationskontrast (POL), Schräglicht (OBL)

Ausstattung:
Objektive: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x, Macro; Digital-Kamera 2048x1536 Pixel; 8“ Kreuztisch; Leica-LAS-Software

Optische Bank

mit schwingungsgedämpftem optischen Tisch 1.2 x 1.8 m; Dunkelzelt; HeNe-Laser, rot, 633 nm, 5 mW, 500:1 polarisiert; diverse optische Komponenten (Strahlführungssystem) Owis

Digitale Oszilloskope

u.a. Tektronix  TDS3054C (4ch, 500MHz, 5GS/s) mit Current-Probe TCP A300; Agilent  DSO9054H (4ch, 500MHz, 2.5GS/s); DSOX3034A (4ch, 350MHz, 4GS/s)

Source measure unit

SMU Agilent B2912A: Kanäle: 2; Auflösung: 10 fA; max. Spannung: 210 V; max. Ströme: 3 A DC / 10.5 A Pulse

Funktionsgeneratoren

u.a. Tektronix AFG3102C: arbiträre 2 Kanäle (1GS/s); max. 100MHz Sinus; max. Spannung 10V

Digitalmultimeter

u.a. Agilent 34411A:6½-stellig; bis 10.000 Messungen pro Sekunde; Messfunktionen: DCV, ACV, DCI, ACI, 2-Draht- und 4-Draht-Widerstand, Frequenz, Periode, Durchgangsprüfung und Diodentest; Kapazitäts- und Temperaturmessungen; erweiterte Messbereiche; Datenlogger mit nichtflüchtigem Speicher für 50.000 Messwerte

Diverse Labornetzteile

u.a. Tektronix PWS4721: Spannung 0 → 72Vdc; Strom 0 → 1.2A; Leistung 86W

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