Front Cover in »Advanced Materials Interfaces«
C. Morales, M. Gertig, M. Kot, C. Alvarado, M. A. Schubert, M. H. Zoellner, C. Wenger, K. Henkel, J. I. Flege
In Situ X-Ray Photoelectron Spectroscopy Study of Atomic Layer Deposited Cerium Oxide on SiO2: Substrate Influence on the Reaction Mechanism During the Early Stages of Growth
Advanced Materials Interfaces 12 (2025) 2400537
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