Front Cover in »Advanced Materials Interfaces«

Der Artikel mit Koautoren vom »IHP – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik« wurde von der Zeitschrift »Advanced Materials Interfaces« für das Front Cover ausgewählt.

C. Morales, M. Gertig, M. Kot, C. Alvarado, M. A. Schubert, M. H. Zoellner, C. Wenger, K. Henkel, J. I. Flege
In Situ X-Ray Photoelectron Spectroscopy Study of Atomic Layer Deposited Cerium Oxide on SiO2: Substrate Influence on the Reaction Mechanism During the Early Stages of Growth
Advanced Materials Interfaces 12 (2025) 2400537
Online (DOI)
selected as Front Cover

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Dr. Carlos Morales Sanchez
Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
T +49 (0) 355 69-5359
Carlos.MoralesSanchez(at)b-tu.de
Prof. Dr. rer. nat. habil. Jan Ingo Flege
Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
T +49 (0) 355 69-5352
flege(at)b-tu.de