Die technische Ausstattung des Lehrstuhls

UHV-Spektromikroskopie

  • XPS/UPS: Photoelektronenspektroskopie
  • PEEM: Photoemissionselektronenmikroskopie
  • NEXAFS-Spektroskopiekammer für Ultrahochvakuum (UHV)
  • AFM-STM: Kombinierte Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie (Omicron) für Messungen im UHV

Spektromikroskopie

Mikroskopie

  • Atomkraftmikroskop (AFM
  • Interferenzmikroskop Epival Interphako (Carl Zeiss)
  • Auflichtmikroskop Epityp (Carl Zeiss)
  • MikroViewer (Kappa) (Videomikroskop bis 1000-fache Vergrößerung)

Beugung

  • LEED (BDL800 LEED Scienta Omicron)

Oberflächenbeschichtung-und -behandlung (Abscheidung)

  • ALD: (in-situ)2
  • Glove-Box zur Herstellung von organischen Schichten unter sauerstofffreien Bedingungen
  • UV-Ozonreiniger

Katalyse

  • Durchflussreaktor (Normaldruck) zur Umsetzung von CO2 zu Methan (Sabatier-Reaktion)
  • Reaktor zur direkten Umsetzung von CO2 zu Methanol bis 45 bar

Elektrische Messtechnik

  • Oszilloskop HP 54616 (500 MHz, 2 Gsa/s, single shot)
  • Generatoren, Frequenzzähler, Multimeter, Netzgeräte (HP, Hameg, Keithley, Prema)
  • LCR-Meter Agilent 4284A, LCR-817 (instek)
  • Netzwerkanalysator Agilent E5100A
  • CV Messplatz, IV Messplatz


weitere Messtechnik

  • Pyrometer (Temperatur-Messgerät) Modline plus icron 400-1200°C