Ein wesentliches Forschungsfeld des Fachgebietes stellen spektroskopische, mikroskopische und spektromikroskopische Untersuchungen an Materialien dar, deren elektronische und strukturelle Eigenschaften aufgeklärt werden sollen.
Dafür stehen die elektronenspektroskopischen Techniken XPS, XAS, UPS, resPES, EELS, AES und NEXAFS, Methoden der spektromikroskopischen Kartierung (LEEM, PEEM, Raman-Mikroskopie) sowie mikroskopische Untersuchungsmöglichkeiten (AFM, STM, optisch) zur Verfügung.
Das Fachgebiet arbeitet eng mit dem Arbeitsgebiet Nanomaterialien zusammen.
- Photoemissionsspektroskopie (PES)
- Elektronenmikroskopie
- Rastersondenmikroskopie
- Infrarot- und Ramanspektroskopie
- Elektrische Charakterisierung
- Modellreaktoren für Katalyse
- ALD-Reaktoren (ex situ/in situ)
- Oberflächenphysik und -chemie
- Mikro- und Nanoelektronik
- Herstellung und in-situ-Charakterisierung funktionaler Oxide und 2D-Materialien
- Heterogene Modellkatalyse
- In-situ-Untersuchung fundamentaler Oberflächenreaktionen und Prozesse
- Entwicklung von Katalysatormaterialien zur CO2-Konversion in Methan & Methanol
- Umsatzanalyse
- Atomlagenabscheidung
- Materialcharakterisierung
- Chemische Zusammensetzung
- Atomare Struktur
- Elektronische und elektrische Eigenschaften
- Oberflächenmorphologie
- Wechselwirkung mit Gasen und Oberflächenreaktivität
- Einsatz von Synchrotronstrahlung