Fachgebiet
Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Prof. Dr. rer. nat. habil. Jan Ingo Flege
Abgeschlossene Bachelorarbeiten
Björn Riedel »Characterization of Nickel Oxide on Nickel(111) using Low Energy Electron Diffraction, X-Ray and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy« (Verteidigung am 27.09.2023)
Cedric Swienty »Combination of operando and in-situ characterization techniques for understanding the early stages of growth of thermal atomic layer deposition of aluminium oxide« (Verteidigung am 27.09.2023)
Cathy Sulaiman »In-situ Wachstum und Charakterisierung von Graphen auf Ru(\(10\bar{1}0\)) am Photoemissionselektronen- und Niederenergieelektronenmikroskop« (Verteidigung am 17.10.2022)
Max Gertig »In-situ X-ray Photoelectron Spectroscopy Study of Ultra-thin Atomic Layer Deposited CeOx Films on SiO2 and Their Sensor Capability for H2 Sensors at Room Temperature« (Verteidigung am 19.10.2022)
Dominik Krage »In-situ-Charakterisierung und Analyse des Samariumwachstums auf Cu-(111) durch Röntgenphotoelektronenspektroskopie« (Verteidigung am 14.07.2022)
Dominic Guttmann »Modifizierung eines ALD-Reaktors vom Pumptyp- zum Mehrzweckreaktor« (Verteidigung am 27.10.2021)
Lukas Schewe »In-situ Analysis and Characterization of Cerium Oxidation States by X-ray Photoelectron Spectroscopy« (Verteidigung am 29.03.2021)
Rudi Tschammer »Charakterisierung des Fokus lasergenerierter XUV-Strahlung für ein Coherent-Diffractive-Imaging-Experiment« (Verteidigung am 26.10.2020)
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