Ein wesentliches Forschungsfeld des Fachgebietes stellen spektroskopische, mikroskopische und spektromikroskopische Untersuchungen an Materialien dar, deren elektronische und strukturelle Eigenschaften aufgeklärt werden sollen.
Dafür stehen die elektronenspektroskopischen Techniken XPS, XAS, UPS, resPES, EELS, AES und NEXAFS, die spektromikroskopische Abbildung mittels Photoelektronen (LEEM, PEEM) sowie mikroskopische Untersuchungsmöglichkeiten (AFM, STM, optisch) zur Verfügung.