Veröffentlichung in »Applied Surface Science« - Fachgebiet Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie

Ein Artikel mit Koautoren aus Italien, Tschechien, dem Forschungszentrum Jülich sowie der Universität Duisburg-Essen wurde in der Zeitschrift »Applied Surface Science« veröffentlicht.

M. Jugovac, T. O. Menteş, F. Genuzio, J. Lachnitt, V. Feyer, J. I. Flege, A. Locatelli
Sensitivity to crystal stacking in low-energy electron microscopy
Applied Surface Science 566 (2021) 150656
Online (DOI)

Kontakt

Prof. Dr. rer. nat. habil. Ingo Flege
Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
T +49 (0) 355 69-5352
flege(at)b-tu.de

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